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日立 热场式场发射扫描电镜SU5000
面议日立 超高分辨肖特基场发射扫描电镜SU7000
面议日立 TM系列专用能谱仪(EDS)AZtec系列
面议日立 TM系列专用能谱仪(EDS) Quantax75
面议日立 台式显微镜 TM4000II/TM4000PlusII
面议日立 离子溅射仪 MC1000
面议日立 离子研磨仪 IM4000II
面议日立 高精度实时三维分析FIB-SEM三束系统 NX9000
面议日立 FIB-SEM三束系统 NX2000
面议日立 高性能FIB-SEM系统 Ethos NX5000
面议日立 CAD导航系统 故障分析导航系统 (NASFA)
面议日立 高性能聚焦离子束系统 MI4050
面议产品介绍:
ArBlade 5000是日立离子研磨仪的高性能机型。
它实现了超高速截面研磨。
高效率截面加工功能,使电镜截面观察时样品加工更简单。
产品特点:
截面研磨速率高达1 mm/h*1!
新研发的PLUSII离子枪发射出高电流密度离子束,大幅提高*2了研磨速率。
*1 Si突出遮挡板边缘100 µm,1个小时加工深度
*2 研磨速率是本公司产品(IM4000PLUS:2014生产)的2倍
截面研磨结果对比
(样品:自动铅笔芯、研磨时间:1.5小时)
截面研磨宽度可达8 mm!
使用广域截面研磨样品座,加工宽度可达8 mm,十分适用于电子元件等的研磨。
复合型研磨仪
全新的复合型(截面研磨、平面研磨)离子研磨仪。
可根据需求对样品进行前处理。
产品规格:
通用 | |
使用气体 | Ar(氩)气 |
加速电压 | 0~8 kV |
截面研磨 | |
研磨速率(材料Si) | 1 mm/hr*1以上含 1 mm/hr*1 |
研磨宽度 | 8 mm*2 |
样品尺寸 | 20(W) × 12(D) × 7(H) mm |
样品移动范围 | X ±7 mm、Y 0~+3 mm |
离子束间歇加工功能 | 标准配置 |
摆动角度 | ±15°、±30°、±40° |
平面研磨 | |
加工范围 | φ32 mm |
样品尺寸 | φ50 × 25(H) mm |
样品移动范围 | X 0~+5 mm |
离子束间歇加工功能 | 标准配置 |
旋转速度 | 1 r/m、25 r/m |
倾斜角度 | 0~90° |
*1 Si突出遮挡板边缘100 µm,1个小时加工深度
*2 使用广域截面研磨样品座时
选配
项目 | 内容 |
高耐磨遮挡板 | 耐磨遮挡板是标准遮挡板的2倍左右(不含钴) |
加工监测用显微镜 | 放大倍率 15×~100× 双目型、三目型(可加装CCD) |