直流脉冲二合一晶圆测试机-武汉普赛斯电子股份有限公司手机版

产品简介

普赛斯高功率VCSEL测试机用于面发射类型VCSEL的Wafer测试，支持芯片的LIV、光谱、近场、远场相关参数的测试，视觉自动识别，全自动完成每一颗芯片的测试；支持常温、高温双温测试，高温测试温度可由用户自定。兼容多种不同尺寸的Wafer，向用户开放测量数据库，用于后续筛分工序。

详细介绍

产品应用

• 典型的人脸识别、车载雷达等应用的VCSEL 芯片测试
• 高功率面发射芯片的验证测试

产品特点

• 集成自制超窄脉冲 SMU、最小脉冲到 1us，电流 30A

• 积分球同步收光，支持短脉冲 LIV 测试和光谱测试

• 支持晶圆位置识别和自动调整
• 测试载台采用高导热材料，TEC温控，温度范围可支持15~100°C
• 支持四线制电压测试，排除环境线损对芯片电压测试结果的影响
• 支持快速光谱测试
• 支持NF均匀性与坏点检测

• 支持FF测试发散角测试

• 软件支持精确定位图、坐标数据生成，数据库自动存储数据及图片

• 开发低感高电流探针，支持窄脉冲大电流测试