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武汉市所在地
产品应用
• COC LIV测试
• COC OSA测试
• LD Chip可靠性验证
• LD Chip失效分析
产品特点
• 采用自动运动控制系统驱动测试探头对不同孔位的器件进行测试
• LIV测试采用积分球收光测试，收光范围大，重复性高
• OSA测试采用准直透镜与多模光纤组合收光，自动耦合算法进行耦合
• 系统采用TEC进行温度控制，温度稳定，升降温速度快
• 软件可支持多种光谱仪，可定制
• 可靠的加电EOS防护
• 重复性测试一致性好
重新放置夹具，同一芯片重复多次测试，一致性结果为：Ith变化＜0.8%，Po变化＜0.5%。优秀的重复性，大幅降低COC老化测试条件下的误判率，进一步提高生产厂家的良率，降低成产成本。
| 测试主机参数 | 指 标 | ||
| 电性能参数 | LD驱动电流 | 0~500mA | |
| LD驱动电流检测 | 0~500mA | ||
| LD电压 | 0~5V | ||
| EA电压范围 | -5V~0V | ||
| EA电流 | 0~250mA | ||
| 驱动模式 | CW/PW | ||
| 支持波长范围 | 1000nm~1600nm | ||
| 温控参数 | 温度范围 | 15°C~100°C | |
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| 升温速度 | 典型值：6°C/Min | |
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| 降温速度 | 典型值：5°C/Min | |
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| 温度稳定性 | 典型值：±0.3°C | |
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| 温度一致性 | 典型值：±1°C | |
| 上位机 | 共享 | 共享dll | |
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| 数据库 | 系统自带SQL数据库,支持远程数据库和MES系统 | |
| 单颗测试时间 | LIV综合测试 | 1.5S | |
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| 光谱测试 | 2S,典型值（单点测试光谱） | |
| 安装需求 | 指 标 | 备注 | |
| 系统电源 | AC 220V 50HZ | 两相三线制 | |
| 测试主机额定功率 | 0.5KW |
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| 工作环境温度 | 25℃±2℃ |
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| 主机占地 | 4㎡ |
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