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武汉市所在地
产品应用
• COC LIV测试
• COC OSA测试
• LD Chip可靠性验证
• LD Chip失效分析
产品特点
• 采用自动运动控制系统驱动测试探头对不同孔位的器件进行测试
• LIV测试采用积分球收光测试,收光范围大,重复性高
• OSA测试采用准直透镜与多模光纤组合收光,自动耦合算法进行耦合
• 系统采用TEC进行温度控制,温度稳定,升降温速度快
• 软件可支持多种光谱仪,可定制
• 可靠的加电EOS防护
• 重复性测试一致性好
重新放置夹具,同一芯片重复多次测试,一致性结果为:Ith变化<0.8%,Po变化<0.5%。优秀的重复性,大幅降低COC老化测试条件下的误判率,进一步提高生产厂家的良率,降低成产成本。
测试主机参数 | 指 标 | ||
电性能参数 | LD驱动电流 | 0~500mA | |
LD驱动电流检测 | 0~500mA | ||
LD电压 | 0~5V | ||
EA电压范围 | -5V~0V | ||
EA电流 | 0~250mA | ||
驱动模式 | CW/PW | ||
支持波长范围 | 1000nm~1600nm | ||
温控参数 | 温度范围 | 15°C~100°C | |
| 升温速度 | 典型值:6°C/Min | |
| 降温速度 | 典型值:5°C/Min | |
| 温度稳定性 | 典型值:±0.3°C | |
| 温度一致性 | 典型值:±1°C | |
上位机 | 共享 | 共享dll | |
| 数据库 | 系统自带SQL数据库,支持远程数据库和MES系统 | |
单颗测试时间 | LIV综合测试 | 1.5S | |
| 光谱测试 | 2S,典型值(单点测试光谱) | |
安装需求 | 指 标 | 备注 | |
系统电源 | AC 220V 50HZ | 两相三线制 | |
测试主机额定功率 | 0.5KW |
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工作环境温度 | 25℃±2℃ |
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主机占地 | 4㎡ |
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