单温载台（单针）芯片测试机-武汉普赛斯电子股份有限公司手机版

产品应用

• 设备用于可见光裸chip自动测试分bin，可以实现常温、高温条件下边发射芯片的光谱、LIV参数测试

产品特点

• 支持Chip的LIV、光谱相关参数的测试、绘制测试曲线

• 芯片蓝膜自动上料，通过视觉系统自动识别芯片ID,测试台支持芯片在相机下自动二次定位，精准控制探针加电测试

• 探针自动下压加电，探针下压力度可调，支持探针力度实时显示

• 下料配置8个蓝膜盘、4个2寸GelPak盒

• 拾取搬运机构（上料吸嘴、下料吸嘴组成，搬运轴采用高精度直线电机控制），稳定性好，运动精度高

• 可实现小功率测试和大功率测试：小功率测试系统（风冷+TEC控温；1寸积分球收光，测PIV、光谱），（预留）大功率测试系统（水冷+TEC控温；3寸积分球收光，测PIV、光谱）

参数	指标
适合芯片尺寸	腔长L x 宽W : 200-2000 μm x 120-300 μm 其他尺寸可定制测试载台
仪表型号	吉时利（Keithley）2601B-PULSE
测量参数	LIV曲线，Ith，Po，Vf，Im，Rs，SE，Kink等
LD驱动电流	小功率芯片范围0 ~ 300mA，精度0.1%FS±0.5mA 大功率芯片范围0 ~ 5A，精度0.1%FS±5mA
电流模式	CW/Pulse
P-I-V	Pulse 0.1ms (ON) Duty1%
正向电压测试	小功率芯片范围0 ~ 15.0V，精度0.1% FS±50mV 大功率芯片范围0 ~ 10.0V，精度0.1% FS±50mV
反向电流测试	0 ~ 100nA，精度1% FS±1.0nA，@<50%RH 0 ~ 1uA，精度0.1% FS±10nA，@<50%RH 0 ~ 10uA，精度0.1% FS±0.1uA，@<50%RH 0 ~ 100uA，精度0.1% FS±1uA，@<50%RH 0 ~ 1mA，精度0.1% FS±10uA，@<50%RH
反向电压测试	范围0 ~ 30.0V，精度0.1% FS±0.3V
光功率测试	小功率芯片测试范围0-300mW；精度0.1% FS±50uW；波长范围380-700nm 大功率芯片测试范围0-10W；精度0.1% FS±10mW；波长范围380-700nm
温度控制	常温:20~85℃；稳定性≤ ±0.5℃
设备尺寸	展开尺寸：2050mm×1800mm×2090mm(L×W×H)
气源要求	正压：>0.6MPa 负压：<-80KPa
电源	AC 220V/8A 50Hz

产品简介