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产品应用
• 设备用于可见光BAR条自动测试，可以实现常温、高温条件下边发射芯片的光谱、LIV参数测试
产品特点
• 支持多种主流规格料盒，全自动上下料，避免转料或人工操作对巴条chip造成的报废
• 上下料料盒配磁吸式夹具，支持快速更换不同规格料盒或蓝膜盘
• 支持BAR条自动上料、首颗chip识别定位，支持ID识别、自动测试、自动判断BAR条测试结束、自动下料
• 吸嘴、探针与BAR条接触压力可调
• 支持单探针、双探针、多探针加电的形态
• 高温、常温测试台，温度采用闭环控制
• 支持前光LIV曲线、功率、光谱测量，背光功率测量，多参数多条件筛分，尽可能筛选出不良chip，避免流入后道工序
• 支持MAP图绘制，方便用户对wafer的性能分布情况分析
• 支持NG Chip打点标记，支持简单的芯片外观检查
• 支持常温、高温测试，常温台支持温控
• 多维度可调测量结构，满足用户对不同规格巴条测量需求
| 参 数 | 指 标 |
| 适用巴条尺寸 | 长度：15~30mm 宽度：0.2~0.5mm，其他BAR条宽度可定制测试台 |
| 仪表型号 | 吉时利（Keithley）2601B-PULSE |
| 测量参数 | LIV曲线，Ith，Po，Vf，Im，Rs，SE，Kink等 |
| LD驱动电流 | 小功率芯片范围0 ~ 300mA，精度0.1%FS±0.5mA 大功率芯片范围0 ~ 5A，精度0.1%FS±5mA |
| 电流模式 | CW/Pulse |
| P-I-V | Pulse 0.1ms (ON) Duty1% |
| 正向电压测试 | 小功率芯片范围0 ~ 15.0V，精度0.1% FS±50mV 大功率芯片范围0 ~ 10.0V，精度0.1% FS±50mV |
| 光功率测试 | 小功率芯片测试范围0-300mW；精度0.1% FS±50uW；波长范围380-700nm 大功率芯片测试范围0-10W；精度0.1% FS±10mW；波长范围380-700nm |
| 温度控制 | 常温:20~85℃；稳定性≤ ±0.5℃ |
| 气源要求 | 正压：>0.6MPa 负压：<-80KPa |
| 电源 | AC 220V/8A 50Hz |
