LD集成式老化系统-武汉普赛斯电子股份有限公司手机版

产品简介

LD集成式老化系统，用于各种类型封装LD器件的老化筛选以及可靠性寿命分析。该系统可以通过软件配置管脚定义并提供高达500mA的驱动电流以及150℃高温老化条件，同时对器件的驱动电流、背光电流以及阈值进行实时监控测试，并自动进行产品失效判断。实时储存监控数据，支持对老化失效器件的数据追述。最多支持3072pcs的单次老化。

详细介绍

产品应用

• 批量生产环节中LD TO器件进行老化筛选
• 长时间可靠性失效测试分析

产品特点

• 提供每路独立的驱动电流
• 软件切换支持各种类型封装LD器件的老化

• 两个独立老化箱体，可以独立控制，升温速度效率高，无过冲

• 支持多种算法计算Ith
• 支持热插拔，可靠的ESD/EOS防护，保证器件老化期间的安全

• 支持老化板监控插拔次数在线记录功能
• 64路老化板作为通用载体，可以实现盘测、老化、分拣不同工位直接的转料，提高生产效率

参数	指标
测试路数	单板64路，左右2个仓，每层24个，共3072路
独立温区数	2个
LD驱动电流	0~250mA
LD正向电压	0~3V
LD监控电流	0~250mA
PD监控电流	0~2000uA
管脚定义	软件切换支持各种封装类型的器件
Ith 扫描	支持Im扫描计算Ith
温度范围	RT+20℃~150℃
温度精度	±2℃
温度均匀性	满载时≤3℃，空载时≤2℃
升温过冲	≤3℃
长期温度稳定性	0.5℃
升温速度	100℃/半小时
设备尺寸（宽x高x深）	1400 x 1800 x 1200(mm)
电源规格	三相五线AC 380V/50HZ