EML TO老化测试系统-武汉普赛斯电子股份有限公司手机版

产品简介

普赛斯EML TO集成式老化测试系统用于EML TO器件的老化筛选以及可靠性寿命分析。系统支持1536路器件老化，通过外部环境控温或对器件内部TEC进行高温控温，为LD器件提供恒定电流来实现对EML器件的老化，系统可实时显示老化电流、背光电流、正向电压、EA电流等参数并且图形直观显示，便于用于观察老化过程中的异常情况，通用老化板兼容我司EML TO盘测系统，显著提高测试效率和TO产品质量。

详细介绍

产品应用

• 批量生产环节中EML TO器件进行老化筛选
• 长时间可靠性失效测试分析

产品特点

• 硬件支持SOA供电，兼容带PD或SOA的EML激光器
• 支持Im扫描计算Ith

• 32路老化板作为通用载体，可以实现盘测、老化不同工位直接的转料，提高生产效率
• 每块老化板可配置不同参数进行老化，老化参数稳定可靠

• 支持热插拔，完善的EOS防护，保证器件老化期间安全

参数	指标
老化规模	1536
LD驱动电流	0~250mA
SOA驱动电流	0~250mA
PD反偏电压	0~5V
LD正向电压	0~5V
LD监控电流	0~250mA
SOA监控电流	0~250mA
PD监控电流	0~2000uA
EA电压	0~-5V
EA电流	0~200mA
LIV扫描	支持Im扫描计算Ith
温控方式	支持外部环境控温和TEC控温
TEC电流范围	-1A~+1A
温控范围	环境温度控温:RT+20℃~150℃ 器件内部TEC控温:RT~130℃
温度稳定性	±0.5℃
数据库	系统自带SQL数据库，可以追述保存LD测试的数据
电源规格	AC 380V/50HZ
功率	AC 380V 7000W