B系列BA-100 X射线荧光镀层测厚仪-易泛特技术（深圳）有限公司手机版

详细介绍

B系列BA-100 X射线荧光镀层测厚仪

设备技术参数：

项目

技术参数

X射线管

50W(50kV和1mA)微聚焦钨靶射线管

探测器

190eV及以上分辨率的Si-PIN固态探测器

滤波器

4位置一次滤波器/单规格准直器

处理器

英特尔，酷睿i53470处理器(3.2GHz)8GB DDR3内存

分析能力

5层(4层+基材)每层分析10种元素，成分分析最多可同时分

25种元素

焦距

激光固定焦距

视频放大倍率

30x:标准 45x:可选

工作环境

温度在10℃~40℃之间，相对湿度小于98%无冷凝

数字脉冲处理

4096多通道数字处理器自动死时间逃逸峰校正

重量

34kg

元素测量范围

13号铝元素至92号铂元素

相机

1/4CMOS-1280x720VGA分辨率

电源

150W，100~240V频率范围为47Hz~63Hz

尺寸(高x宽x深)

样品仓:140mm(5.5”)x305mm(12”)x330mm(13”)

外形:450mm(18”) x450mm(18”)x600mm(24”)

应用领域：

B系列可满足以下类型用户的需求：

◆样品测试量相对较小

◆样品仅需测量一个位置

◆大型线路板镀层的抽检

◆预算有限但希望日后仪器性能能有所提升

◆保证符合IPC-4552A

特点：

◆B系列是博曼的基础机型和常规机型。该型号采用自上而下的测量方式，配备固定样品台可实现手动操作。测量时将样品放入样品仓，通过观察视频图像来对准屏幕上十字线内的位置来完成测量。

配置：

◆B系列标准配置包括一个固定准直器，一个固定焦距的相机，固态PIN探测器和质量可靠的微聚焦X射线管。与其他型号一样，该型号也可升级为包括多个准直器，可变焦距相机和SDD探测器。