日立 热场式场发射扫描电镜SU5000

产品介绍 创新的“EM Wizard”界面更加直观，仅需要“点击”即可得到的图像。 超前的电脑辅助技术将电镜的操作与控制提升到一个新水平。 参考价面议

日立 超高分辨肖特基场发射扫描电镜SU7000

产品介绍 SU7000不仅可以在低加速电压下获得高画质图像，而且还可以同时接收多种信号。此外，它还具备大视野观察、In-Situ观察等FE-SEM的众多性能。 SU7000是一台实现了信息获取量的新型扫描电镜，可以满足客户的多种观察需求。 接下来请欣赏SU7000带来的多彩世界。 参考价面议

日立 TM系列专用能谱仪（EDS）AZtec系列

产品介绍 1、图标按操作流程顺序排列，操作简便。2、通过对应谱图可简单确认元素重叠状况。3、通过TruMap功能分离出谱峰重叠元素并准确显示(AZtecOne)。4、和TM4000Plus搭配应用实例。5、探测器内置型 (制造商：英国牛津仪器) 参考价面议

日立 TM系列专用能谱仪（EDS） Quantax75

产品介绍 操作简单且直观 参考价面议

日立 离子研磨仪ArBlade 5000

产品介绍 ArBlade 5000是日立离子研磨仪的高性能机型。 它实现了超高速截面研磨。 高效率截面加工功能，使电镜截面观察时样品加工更简单。 参考价面议

日立 台式显微镜 TM4000II/TM4000PlusII

产品介绍 台式扫描电子显微镜(SEM)全新升级。 我们以“更高画质、更易于使用、更易于观察”为理念，开发出TM4000系列。在此基础上，我们又推出功能更为多样的TM4000Ⅱ系列。 为您提供全新的观察和分析应用。 参考价面议

日立 离子溅射仪 MC1000

产品介绍 采用磁控型电极，限度地减轻对样品的损坏。 参考价面议

日立 离子研磨仪 IM4000II

产品介绍 日立离子研磨仪标准机型IM4000Ⅱ能够进行截面研磨和平面研磨。还可通过低温控制及真空转移等各种选配功能，针对不同样品进行截面研磨。 参考价面议

日立 高精度实时三维分析FIB-SEM三束系统 NX9000

产品介绍 追求理想的三维结构分析 通过自动重复使用FIB制备截面和进行SEM观察，采集一系列连续截面图像，并重构特定微区的三维结构。 采用的镜筒布局，从材料、设备到生物组织——在宽广的领域范围内实现传统机型难以企及的高精度三维结构分析。 参考价面议

日立 FIB-SEM三束系统 NX2000

产品介绍 追求的TEM样品制备工具 在设备及高性能纳米材料的评价和分析领域，FIB-SEM已成为的工具。 近来，目标观察物更趋微细化；更薄，更低损伤样品的制备需求更进一步凸显。 日立高新公司，整合了高性能FIB技术和高分辨SEM技术，再加上加工方向控制技术以及Triple Beam®＊1（选配）技术，推出了新一代产品NX2000 参考价面议

日立 高性能FIB-SEM系统 Ethos NX5000

产品介绍 高性能与高灵活性兼备“Ethos”采用日立高新的核心技术--的高亮度冷场发射电子枪及新研发的电磁复合透镜，不但可以在低加速电压下实现高分辨观察，还可以在FIB加工时实现实时观察。 参考价面议

日立 CAD导航系统 故障分析导航系统 (NASFA)

产品介绍 该导航系统可以将CAD数据的布线和大规模集成电路的设计图形和FIB的观察图像相对应起来。当CAD系统中的坐标位置，样品台就会通过链接移动到相应位置，就可以获得相应位置的SIM图像。同时，CAD数据和SIM图像也可以重叠显示。因此，很容易检查到下层布线的状态，实质上提高了分析的效率，有利于进一步进行修理工作。 参考价面议