CT-400全波段高性能光器件测试仪

CT-400CT-400全波段高性能光器件测试仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2022-03-10 18:05:12
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产品简介

CT-400采用*的设计理念,克服了两种测试方法的缺点,形成了业界Z为综合的、紧凑式的低价格的宽波长范围的光损耗测试方案,可进行宽谱范围内的光器件和光模块的精确的光功率、光波长、光损耗和光的偏振测试。

详细介绍

产品简介: 
        传统的光器件和光模块的光损耗测试一般有两种模式:采用自己搭建的步进式测试方案或完整的集成式扫描系统。前者由于自身系统的限制,很难满足光传递功能连续扫描测试的需求;而后者尽管在性能上可以得到保障,但是由于系统的价格和难以扩展,也很难被用户所接受。
       CT-400采用*的设计理念,克服了两种测试方法的缺点,形成了业界zui为综合的、紧凑式的低价格的宽波长范围的光损耗测试方案,可进行宽谱范围内的光器件和光模块的精确的光功率、光波长、光损耗和光的偏振测试。

 

产品特性:                                                                           产品应用: 
         支持4个可调谐光源                                                              光功率测试
         支持多个连续扫描                                                                光损耗测试
         测量速度快                                                                            光波长测试
         体积小、价格便宜                                                                光偏振测试
         精度高

 

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