产品简介：
         NanoMap-D 是一款集白光干涉非接触测量法和大范围SPM探针扫描接触式测量法于一体的双模式三维表面轮廓仪，测量方式可以根据测量需要灵活切换
    在强大的分析软件和*的传感器下，NanoMap-D的应用领域覆盖了薄膜/涂层、光学、工业轧钢和铝、纸、聚合物、生物材料、陶瓷、磁介质和半导体等几乎所有的材料领域。
产品特性：                                                                               产品应用：   
        平台：                                                                                        薄膜厚度测量
        一个平台融合两种技术（接触和非接触）                             台阶高度测量
        计算机可控5个方向的精密电控工作台                                   表面粗糙度测量                              
        使用方便 - 关键2步操作                                                           二维薄膜应力测量
        超高分辨率数字成像传感器传输数据快                                 平坦度或曲率测量
        非接触光学轮廓仪探头：                                                      表面轮廓（缺陷、形貌等）呈现
        成像质量在200万像素之上                                                       划痕形貌，磨损深度、宽度和体积定量测量
        0.001nm的分辨率                                                                                       
        nm到10mm的Z轴范围
        XY扫描范围达到150x150mm
        测量速度快 -
        大于20年的LED光源寿命
        接触式轮廓仪探头：
        可生成二维和三维图像
        nm到500um的Z轴范围
        XY扫描范围达到150x150mm（针尖扫描和样品台扫描）