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易于使用，而且可以经济有效地分析防反光涂层和镜头上的硬涂层
F10-AR是为了简便、经济有效地测试防反光涂层（增透膜）而设计的*台仪器。在用户定义的任何波长范围内都能选择进行/不进行zui低、zui高和平均反射测试。
专门的算法能够对硬涂层所产生的局部反射失真进行校正。我们*的AutoBaseline特性能*地增加基线间隔而且和其他基于光纤探头的仪器相比精确度高出五倍。
UPG-F10-AR-HC选件可以把软件升级能够测量0.25-15um 的硬涂层厚度。即使在存在AR 层的情况下也能对硬涂层厚度进行测量。
无须对涂层背面进行准备
我们*的探头设计能抑制1.5mm厚基板98%的背面反射，测量更厚镜头时能抑制得更多。
F10-AR通过USB接口和计算机相连即可使用。
