将inVia与众多制造商的其他分析系统联用，可增强其分析能力。

　　为发挥率，您可以使用两种或多种技术分析样品，而无需在仪器之间转移样品。使用雷尼绍的相关光谱仪确保您同时采用两种技术对同一点进行分析。

　　SPM/AFM：纳米分辨率

　　inVia与扫描探针显微镜 (SPM) 联用，如原子力显微镜 (AFM)，可研究材料的化学和结构性能。用TERS增加纳米尺度化学分辨率，以揭示诸如机械性能等互补信息。

　　SEM：高放大率图像和元素分析

　　通过雷尼绍的拉曼SEM-SCA接口，使扫描电镜具有inVia的拉曼分析能力。使用SEM记录样品的高分辨图像，并使用X射线进行元素分析。增加拉曼分析能力，以识别材料和非金属化合物，即使这些物质具有相同的化学计量结果也不在话下。

　　纳米压痕：机械性能测量

　　通过拉曼获得全面化学分析，原位直接测量压痕的相关机械性能。

　　CLSM：共焦图像

　　如果您的样品具有复杂的3D结构（或许是生物细胞），您可以将激光共聚焦扫描显微镜 (CLSM) 添加到inVia上，使共焦荧光成像与拉曼化学成像关联起来。

　　通过联用增强能力

　　相关成像技术提供隐藏的信息。如需详细了解如何将inVia耦合到其他分析系统，请联系我们。