集成电路IC芯片温度冲击测试机 接触式冲击

ATC840集成电路IC芯片温度冲击测试机 接触式冲击

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2024-11-18 10:59:24
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产品简介

集成电路IC芯片温度冲击测试机 接触式冲击,ThermoTST ATC840是一台精密的接触式高低温冲击机,具有更广泛的温度范围-45℃到+200℃,提供了很强的温度转换测试能力。

详细介绍

集成电路IC芯片温度冲击测试机 接触式冲击

ThermoTST ATC840是一台精密的接触式高低温冲击机,具有更广泛的温度范围-45℃到+200℃,提供了很强的温度转换测试能力。

ThermoTST ATC840是一台精密的接触式高低温冲击机,具有更广泛的温度范围-45℃到+200℃,提供了很强的温度转换测试能力。

ThermoTST ATC840是一台精密的接触式高低温冲击机,具有更广泛的温度范围-45℃到+200℃,提供了很强的温度转换测试能力。

集成电路IC芯片温度冲击测试机 接触式冲击

ThermoTST ATC840通过测试头与DUT之间直接接触,将DUT的温度(壳温或者结温)调整到目标温度点进行相应的性能测试。同时适用于已焊接的芯片和使用socket的芯片,可以真正做到只控制待测芯片温度而不影响外围电路,排除外围电路引起的不确定性。


特点

有效温度范围,-45℃至+200℃

温度稳定性±0.5℃

触摸屏操作,人机交互界面

支持DUT温度控制

桌面设计,低噪音、低震动、低环境散热

温度波动小

低温环境测试无冷凝


应用

适用于IC特性、测试和失效分析:

ATE, SLT和工作台

高低温测试箱/低温冷却机代换

OEM集成



特点

有效温度范围,-45℃至+200℃

温度稳定性±0.5℃

触摸屏操作,人机交互界面

支持DUT温度控制

桌面设计,低噪音、低震动、低环境散热

温度波动小

低温环境测试无冷凝


应用

适用于IC特性、测试和失效分析:

ATE, SLT和工作台

高低温测试箱/低温冷却机代换

OEM集成







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