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产品概述
JC-100非真空荧光光谱仪(能量色散X荧光光谱仪)体积小、稳定性好、分析快速准确、运行成本低、操作维护方便、是控制产品质量的理想选择。可测定铅Pb、汞Hg、镉Cd、铬Cr、溴Br等元素。硅半导体探测器,通过智能激发和检测设计实现高灵敏度,用户可自定义多曲线多光谱拟和分析方法,适用于不同的应用场合。
仪器特点
· 无损检测,测量时间比化学方法短,不需要辅助材料。
· 可测定S(16)~U(92)之间所有元素,元素含量分析范围为2PPm到99.99%。
· 光谱的自动获取和显示,具有自动检测仪器工作状态的功能。
· 操作简单,一键测试,对操作人员无要求。
· 硅半导体探测器,通过智能激光和检测设计实现高䈻敏度,用户可定义多曲线多光谱拟合分析方法。
· 采用BG内标校正,提高非定性式样测量精度,全自动定量分析报告,自适应初始化校正。
· 测试稳定性好、分析快速准䉯、墇行成本低、操作维护方便。
应用领域
适用RoHS、合金、贵金属、土壤重金属、废液重金属以及中心实验室成品检验检测等领域
技术参数
仪器型号 | JC-100 |
分析元素范围 | S(16)—U(92)任意 |
素检出下限 | 2ppm |
样品类型 | 固体/粉末/液体 Mo/W/Ag/Rh等靶材可选 |
X射线管 | 管电压:5─50kV 管电流:1─1000μA |
内腔尺寸 | 450mm*330mm*100mm |
准直器 | 2、5、8mm |
探测器 | 美国Amptek Si-PIN探测器 |
前置放大器 | 美国Amptek 前置放大器 |
主放大器 | 美国Amptek 主放大器 |
AD转换模块 | 美国Amptek AD转换模块 |
ADC | 2048道 |
滤光片 | 6种滤光片自动选择并自动转换 |
样品观察 | 130万彩色CCD摄像机 |
分析软件及方法 | 升级,理论 alpha 系数法、基本参数法、经验系数法 |
工作环境 | 温度10-35℃,湿度30-70%RH 大气环境 |
外形尺寸 | 600(W)×500(D)×430(H)mm |
重量 | 50kg(主机部分) |
外部供电要求 | AC220±10%、50/60Hz |
测试样品时间 | 0-300秒可调 |