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产品概述
JC-200配备抽真空，配置了真空测试系统，增加了元素测试范围，探测器配备 SDD 的测 试系统，特别是提高了 Na、Mg、Al、Si 等轻元素的检出限，精确度提高了，同时在测试 Cd/Pb/Cr/Hg/Br/Cl 等其他元素的重复性稳定性有了明显的提高。
仪器特点
· 无损检测，测量时间比化学方法短，不需要辅助材料。
· 可测定Na(11)～U(92)之间所有元素，元素含量分析范围为1PPm到99.99%。
· 光谱的自动获取和显示，具有自动检测仪器工作状态的功能。
· 半导体探测器，通过智能激光和检测设计实现高灵敏度，用户可自定义多曲线多光谱拟合分析方法。
· 高分辨率图形即时显示，由不同色块加以判断区分。
· 采用BG内标校正，提高非定性式样测量精度，全自动定量分析报告，自适应初始化校正。
· 测试稳定性好、分析快速准确、运行成本低、操作维护方便。
应用领域
适用于矿石、合金、水泥、炉渣、煤灰、耐火材料以及中心实验室成品检验等领域。
技术参数
仪器型号 | JC-200 |
分析元素范围 | Na(11)—U(92)任意元素 |
检出下限 | 1ppm |
样品类型 | 固体 / 粉末 / 液体 |
X射线管 | Mo/W/Ag/Rh等靶材可选 管电压：5─50kV 管电流 :1─1000μA |
内腔尺寸 | 150mm*150mm*100mm |
准直器 | 2、4、4、8mm |
探测器 | 美国Amptek SDD探测器 |
前置放大器 | 美国Amptek 前置放大器 |
主放大器 | 美国Amptek 主放大器 |
AD转换模块 | 美国Amptek AD转换模块 |
ADC | 2048道 |
滤光片 | 6种滤光片自动选择并自动转换 |
样品观察 | 130万彩色CCD摄像机 |
分析软件及方法 | 升级，理论alpha 系数法、基本参数法、经验系数法 |
工作环境 | 温度 10－35℃ 湿度 30－70％RH |
外形尺寸 | 600(W)×500(D)×500(H)mm |
重量 | 60kg（主机部分） |
外部供电要求 | AC220±10%、50/60Hz |
测试样品时间 | 0－300秒可调 |
