日本（Nikon）尼康XT H 225 工业CT扫描系统

泛应用于小型铸件，塑料零件检测，材料研究等领域的型CT

在零件内部组装的信息获取与测定，质量管理，故障分析，材料研究等应用中。装备了强力的225kV微焦点X射线源的XTH225系列，带给我们高清晰度的X光图像以及CT图像

适用于车间的功能

多年来，X射线CT一直用于实验室中的样品内部检测，例如化石和人工制品等。最近，该技术在制造环境的质量控制应用中发挥着重要作用。

它能够无损检测零件和装配件内部的空隙、毛刺、裂纹和其他缺陷，包括额外制造的零件和装配件。它还可以作为一种计量工具，用以确保内部和外部尺寸符合高精度要求。然而，制造商们已不满足于仅在制造过程中“精益求精”。他们在车间使用CT实时调整生产线，以防止零件超出公差范围。

XT H 225 ST 2x结合了我们的专业硬件和创新软件，因此具备各种应用中所需的高效性、可靠性和准确性。它支持用户新产品从研发到建立生产线、预试生产到批量生产的各个环节， 直至最终投入市场。

灵活满足不同需求

XT H 225 ST 2x可配置业界的平板探测器，可达2880×2880像素（150µm）。该系统具有切换X射线靶、马达移动FID和选择测量模式的功能，是一种非常灵活的工具，可应对各种样品和检测挑战。这意味着XT H 225 ST 2x不仅适用于快速连续检测，同样也适用于研发工作、预生产支持、质量控制和故障分析。  

XT H 225 X射线和CT检测系统，可供工业应用工业零部件内外全检

外部零件和总成特征的详细测量对于质量控制、失效分析和材料研究而言通常是非常重要的。XT H系统可提供强大的X射线源，超大的检测体积和较高的X射线和CT成像分辨率。 

XT H 系统可采用225kV电源，可选用旋转目标，适合于各种应用，包括小铸件检测、塑料件及材料研究。

一种射线源可配四种靶

一个225千伏微焦点源加上四个可选X射线靶头实现了其灵活性。所有靶均可由用户切换以优化系统性能，切换过程快速且毫不费力。因此避免了购买和维护第二源管和附件的额外成本。反射靶是我们的标准配置，焦点尺寸低至 3µm，可为各种应用提供合适的分辨率和功率。另一方面，旋转靶使用30W以上功率和同功率下三分之一小的焦点，可以在高功率下保持非常清晰的图像，并减少扫描物体所需的时间。透射靶可提供小于1μm的焦点，以获得更高的清晰度。通常在材料分析中，使用低能量的X射线发射有效，可以用多金属靶来实现。除了标准钨（W）靶外，操作者还可以选择银（Ag）、钼（Mo）和铜（Cu）。

行业的检测器技术

Nikon Metrology使用业界的平板探测器，可实现更小的像素和更快的曝光。然而，面板技术的*功能只有与兼容的微焦点X射线源匹配时才能发挥作用。

XT H 225 ST 2x提供了这种兼容性，正因如此，Rotating.Target2.0产生的高功率使探测器能够以更快的曝光时间工作，从而实现超快的数据采集。高功率X射线的微焦点特性加上探测器的小像素和大面积优势，使得数据集具有高质量和高分辨率。

HALF.TURN CT，快速CT采集

样品检测时通常需要将样品旋转360度，而射向样品的X射线不是被吸收就是穿透，对此Nikon Metrology设计了一种方法，使样品只需旋转超过180度即可获得足够的数据。

我们的重构软件开发*由公司自主控制，能够引入新的自动旋转中心计算，并优化重构算法，从而促进了半转的诞生。这些技术的共同作用消除了由样品旋转不足360度而产生的伪影。因此，只需一半传统CT所需数据即可自动生成同等质量和精度的图像。

ROTATING.TARGET 2.0

Nikon Metrology工业CT系统优势还包括旋转靶技术，可显著提高扫描速度和信噪比。这是由于靶可以生成高功率X射线，并同时保持微焦点。版本Rotating.Target 2.0的优化设计使正常运行时间延长了一倍。以8000转/分的转速旋转钨靶，结合液体冷却，提高了入射电子束小光斑产生热量的散热效率。与仅依靠其材料特性（如导热系数）进行冷却的固定大功率靶相比，旋转靶具有显著的优势。它可以实现连续运行和连续扫描，无需冷却，功率450瓦，无需切换至其他靶。

*控制软件

Inspect-X软件在X射线CT市场中极其优秀。它直观、易用，简化了复杂样品的CT扫描过程，有利于准确检测。该软件由Nikon Metrology公司自主开发，旨在简化采集和重构CT数据的过程。

对于新手用户而言，最关键的是其智能化可以随时为他们提供当前所需信息，因此简化了任务流程。高级用户可以利用对源和平板探测器的所有设置，以及采集技术和设置的熟练掌握，将系统自定义至当前扫描样品的状态。从而获得的控制体验，并可按需自定义测量，例如延时CT或在生产线内*集成检测系统。

马达移动FID

由于X射线强度随着源和平板探测器之间距离的增加而降低，为了补偿任何通量损失，用户通常必须增加X射线源功率，这会使焦点变大，或者延长探测器曝光时间，这会使扫描时间变长。

XT H 225 ST 2x具有马达移动FID（焦点到探测器距离）调整功能，因此用户无需增加X射线功率或延长探测器曝光时间。用户可以选择较短的FID，以便在使用低功率X射线时，为给定分辨率提供更快的扫描时间或更高的信噪比。

批量CT检测

Nikon Metrology的Inspect-X软件允许用户保存配置文 件，以便日后调用。配置文件定义了所有采集和分析参数，确保了整个CT过程的可重复性。

• 无需编程技能

• 简单的操作界面

• 无需手动选择参数

• 操作员可以自由执行其他任务

半自动CT检测

需要手动操作的环节是装入多零件样品架。零件识别、程序选择、数据采集、分析和报告*自动化。

• 自动零件识别

• 与制造数据库集成

• 统计过程控制（SPC）

在线CT检测

在线CT检测是对应*自主生产环境中，需要检 测具有复杂几何形状关键零件的解决方案。

• 与机器人和输送系统集成

• 快速检测和过程变化反馈

• 实时控制和优化生产

主要特点:

高速旋转靶（选配件）可以使X射线束增幅达到五倍，实现了在同一扫描时间内CT数据精度更高，CT数据获取也更加快速。

• 225kV的强力射线管（选配旋转靶） 
• 实时的X射线可视化，迅速的CT 数据重构 
• *可编程化的5轴操作样品台 
• 可自定义宏让检测工作流程自动化 
• 针对多用途设计的3种不同大小的铅房防护外壳（标准，ST，LC）

引进功能:

• 将灵活性整合到一个系统里:X射线快速可视化检测，CT重构精密解析 
• 快速获取高品质图像 
• 人机交互式操作杆导航界面使用快速直观 
• 高清晰度数字图像与图像处理 
• 不需要特别外加防护的完备安全系统 
• 通用于业界标准的后处理应用格式

用途：

• 精密的塑料零件，小型铸件，复杂的机械装置、CAD实物比对等等的评价与测定 
• 详细的故障原因分析 
• 高级材料学研究与生物学的构造分析 
• 模型的数据转换与保存 
• 组装装配的问题分析 

优点:

• 可灵活地整合在单个系统中：X射线可用于快速目视检测，CT可用于深入分析快速数据采集和高质量图像； 
• 可利用交互式操纵杆导航功能进行快速操作 高分辨率数字成像和处理； 
• 嵌入式安全装置可使操作人员安全地操作该系统，无需任何特殊的预防措施或安全警示标志； 
• 可与行业标准后处理应用紧密集成

产品规格及参数;

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