红外显微镜BX53IR半导体检测

红外显微镜BX53IR半导体检测

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2022-04-26 09:44:50
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上海力阳实业有限公司

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产品简介

红外显微镜BX53IR可对裸眼不可见的区域进行无损的检查和分析,以及近红外观察特化的显微镜

详细介绍

红外显微镜BX53IR

可对裸眼不可见的区域进行无损的检查和分析,以及近红外观察特化的显微镜。能对半导体晶片内部和集成电路组件背面进行无损的CPS bumps观察

红外显微镜应用

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