CZ-150P晶振测试仪 晶体阻抗计 晶体频率测量 1~60MHz

CZ-150PCZ-150P晶振测试仪 晶体阻抗计 晶体频率测量 1~60MHz

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2022-01-25 18:06:03
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东莞市茶山创域电子仪器设备经营部

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产品简介

测量石英晶体串联谐振电阻Rr、串联谐振频率fs、负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL

详细介绍

晶体测试仪/晶振测试仪性能指标:

□ 测频范围:1~60MHz。

□  电阻测量范围:1~500Ω。

□  激励功率可调范围:1~1200μW。

□  可调负载电容:12~50PF。  

□  八位频率显示。

□       四位PPM显示,频率上下限、200档分档分选。

□       上下限频率分别设置,超出范围(不合格)时自动声光报警

 

CZ-150型系列晶体阻抗计是用于测量石英晶体串联谐振电阻Rr、串联谐振频率fs、负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL(目前*CZ-150C、P型),机内带可调负载电容12.5pF~50pF(目前*CZ-150C、P型),且等效电阻和谐振频率直接读数,激励功率可调(*CZ-150A、C、P型)。测量插座适合晶体引线宽度3.75~14.50mm。(注:CZ-150P为分体型,由CZ-150型主机和CB-3371频率计组合而成。)  

2. 技术参数      

2.1  频率范围: 1 ~ 60 MHz     

          频段划分:  1  1 ~ 2.2 MHz

                              2  2.2 ~ 5 MHz  

                              3   5 ~ 10 MHz     

                              4  10 ~ 20 MHz     

                              5  20 ~ 40 MHz    

                              6  40 ~ 60 MHz    

 2.2  测量网络的终端电阻:源端 24 Ω;负载端 27 Ω。

 2.3  起振电阻范围:

 1 ~ 10 MHz起振电阻范围为0 ~ 500 Ω;

 10 ~ 60 MHz起振电阻范围为0 ~ 100 Ω。

 2.4  阻值读数范围:  

0 ~ 1999.9 Ω  误差±(10+频率MHz为单位时/10)%。

 2.5  激励功率范围: 1.5 ~ 1200μW  误差±25%    

                                      (*CZ-150A、C、P型)。

 2.6  负载电容范围: 12.5~50pF   

               (*CZ-150C、P型,超出此范围可订作)。

 2.7  频率计测量准确度: 5 PPM。

 2.8  频率计数字显示: 8位。

 2.9  时基稳定性:   短期:1×10 –7 /秒     *:2×10 –5 / 月。

               [可选配高稳定度的恒温晶振(1~5)×10 –8/日]。

 2.10  使用环境: a.环境温度:20℃±2℃;

                                   b.相对湿度:(45 ~ 75)%;

                                   c.大气压强:86 ~ 106 kPa;

                                  d.避免外电磁场干扰,避免阳光直射。

 2.11 安全组别:属GB4793《电子测量仪器安全要求》中Ⅱ类安全仪器。

 2.12 使用电源:220 V ± 2 %,50 Hz±1%。

 2.13 连续工作时间:8小时。

 2.14 消耗功率:小于25 W。

 2.15 外形尺寸:380 mm(宽) X 150 mm(高) X 290 mm(深)。

 2.16 重量: 约 7 kg。 

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