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| GSL-1000激光颗粒分布测量仪 | （测量范围：0.1～600微米） |
| 序号 | 项目 | 性能指标 | 序号 | 项目 | 性能指标 |
| 1 | 测量范围 | 0.1～600 微米 | 7 | 激光器 | 半导体激光器，功率5mW |
| 2 | 重复性 | <±0.5%（标样，Dv50值） | 8 | 通讯端口 | USB 接口 |
| 3 | 复现性 | <±0.75%（标样，Dv50值） | 9 | 进样方式 | 微量进样装置 |
| 4 | 系统误差 | <±1%（标样，Dv50值） | 10 | 样品池容积 | 40 ml |
| 5 | 测量原理 | 全程Mie散射理论 | 11 | 搅拌速度 | 100～800转/分钟，连续可调 |
| 6 | 采样通道 | 前向70通道，双侧向8通道 | 12 | 外形尺寸 | 575x295x251（mm） |
| 测量结果准确性好 |  | ||
| 测量原理为全程Mie Scattering理论，结合本公司的反演算法，加之精密的机械、光学系统设计、的电子元器件，在理论和性能上保证了测量结果的准确性。 | |||
| 测量范围宽 | |||
| 前向散射光接收采用本公司技术交叉扇形大尺寸主光电探测阵列（70个通道）、高灵敏度双侧向光电探测阵列（每侧4个通道），使单透镜测量范围达0.1～600μm，可测量D50从300～400nm直至400～500μm的众多样品，以满足大多数用户对粒度测量范围的需要。 | |||
| 测量重复性好 | |||
| 仪器设计采用高灵敏度光电探测阵列，低噪声信号放大器，高位模拟数字转换器，保证电路部分噪声降至。使用进口半导体激光器（寿命长达25000小时）及本公司自行研制的激光准直系统，激光光斑能量分布均匀，形状规则。进样系统具有转速调节装置，保证样品在测量窗口中分布均匀。以上种种措施确保仪器测量结果具有良好的重复性。 | |||
| 测试速度快 |  | ||
| 高速采样系统，采样速度达到4500次/秒；全隔离USB2.0通讯接口，提高了通讯速度；采用微量进样系统，样品制备过程简单，清洗速度快。一般在20秒之内，就可以完成一次测试过程。 | |||
| 测量软件功能完备 | |||
| 仪器采用电脑进行实时控制，自动完成数据采集、分析处理、结果保存和打印等功能,操作简单,自动化程度高。测量软件具有SOP功能，数据库功能以及多种数学模型，功能完备，操作简单，易学易用。 |
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