高频介电常数测试仪(10KHZ-160MHZ)

高频介电常数测试仪(10KHZ-160MHZ)

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具体成交价以合同协议为准
2022-07-27 08:38:27
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北京冠测精电仪器设备有限公司

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产品简介

GCSTD-A/B介电常数及介质损耗测试仪满足标准:GBT1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法一、概述介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷

详细介绍

GCSTD-A/ B介电常数及介质损耗测试仪

 

满足标准:GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法

一、概述

介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量核心采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。

仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。

二、技术指标 

1.   双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。

2.   双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。

3.   双数码化调谐 - 数码化频率调谐,数码化电容调谐。

4.   自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。

5.   全参数液晶显示 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。

6.   DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真,频率的高精确、幅度的高稳定。

7.   计算机自动修正技术和测试回路化 —使测试回路 残余电感减至,* Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。

8  使用者能在仪器给出的任何频率、任意点调谐电容值下检测器件的品质,无须关注量程和换算单位。          

技术特性

 型号

GCSTD-B

GCSTD-A

Q 值测量范围

2 1023 , 量程分档: 30 100 300 1000 ,自动换档或手动换档

Q值测量范围:21023

Q值量程分档:301003001000、自动换档或手动换档。

 

固有误差

5 % ± 满度值的 2 %( 200kHz 10MHz

 6% ± 满度值的2%(10MHz160MHz

20kHz~10MHz

≤5%±满度值的2%;

10MHz~50MHz;

≤6%±满度值的2%;。

工作误差

7% ± 满度值的2% ( 200kHz 10MHz

8% ± 满度值的2%(10MHz160MHz

20kHz~10MHz

≤7%±满度值的2%;

10MHz~60MHz;

≤8%±满度值的2%

电感测量范围

4.5nH 140mH

14.5nH~8.14H

电容直接测量范围

1 200pF

1460pF

主电容调节范围

18 220pF

30500pF

150pF以下±1.5pF

主电容调节准确度

120pF 以下 ± 1.2pF 120pF 以上 ± 1

150pF以上±1

信号源频率覆盖范围

100kHz 160MHz

10kHz50MHz

频率分段 ( 虚拟 )

100 999.999kHz 1 9.99999MHz,10 99.9999MHz 100 160MHz

1099.9999kHz

100999.999kHz

19.99999MHz

1060MHz  

频率指示误差

3 × 10 -5 ± 1 个字

3×10-5±1个字

三、正常工作条件

    a.  环境温度:0+40                                       

b.相对湿度:<80%;  

c电源220V±22V50Hz±2.5Hz

四、产品配置:

a.测试主机一台;

b.电感9只;

c.夹具一套

五、

     a消耗功率25W  

b净重7kg  

c. 外型尺寸:(l×b×hmm380×132×280

     d.测试样品尺寸:直径为Φ50mm/Φ38mm  厚度为0.5-15MM

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