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面议福州欧士玛自动化设备有限公司郑州营销中心
:李工
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:osma007
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相当500台分辨率为1μm的高精度激光位移传感器集成在宽度12.5mm的检测头中!
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※1 | EMC指令 |
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可zui多对测量宽度(X轴)上的任意位置的10个测量点进行超高速测量和判定。
以往的2维位移传感器,须对整个测量宽度(X轴)进行一次测量后,才能取得点的测量结果,因此不适合高速测量用途。
HL-D3系列产品仅对的点进行位移测量,可进行高效的内部处理,因此,从测量、运算到判定的过程速度非常高。当然,各测量点可分别调节敏感度,实施*化测量,因此,也实现了高精度测量。
(MSDS = Multi-Select Displacement Sensing)
【特 长】
?实现高速取样→zui快80μs(2光点时)
?测量点可任意 → zui多10点
?具有点的缓冲功能
?可进行高度、高低差的运算及判定的输出
?装备宽单元功能
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zui完善化测量宽度内分割的光量的同时,进行高精度的测量。适用于光泽和颜色不一样的测定工作。
以往的2维位移传感器由于对整个测量宽度(X轴)进行统一的光量调节,反射率相差较大的部分混在一起时,会产生受光量饱和或不足,从而导致难以获得有效的测量结果。
HL-D3系列产品则对测量宽度(X轴)内进行细分,并分别对各分割单位(称为“光量调整单位”)进行投光量调节,使敏感度*化,实现了稳定而高精度的测量。
(MZBC = Multi-Zone Beam Control)
【特 长】
?反射率不同的部分混在一起的工件也能进行稳定测量。
→ 金属部分和树脂部分的混合
→ 平坦面和倾斜面的混合……等
?实现高精度测量
→ 分辨率 1μm(平均次数:64次,测量平均高度)
■统一同步计测模式
调节成相同的敏感度对整个测量宽度(X轴)进行统一测量。该模式适用于测量高速移动的工件。
■等间距计测模式
以的间距对测量宽度(X轴)进行分割,为每个间隔调节敏感度,进行等间隔测量。可减少测量点数,提高测量速度。
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用USB电缆连接安装了HL-D3C(控制器)和HL-D3SMI的计算机后,即可轻松进行各种条件的设定,并具有对测量值、判定结果进行监视等功能。由于保存的数据可在画面上再生,显示形状波形,因此还能用作分析工具。
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■动作环境
OS | Microsoft® Windows® XP 日语版(SP2以上、仅为32bit版)、 Microsoft® Windows® 2000 日语版(SP4以上) |
CPU | Pentium®兼容CPU、1GHz以上 |
存储器 | 512MB以上 |
画面显示 | 1,024×768 点阵 256色以上 |
硬盘 | 50MB以上的可用空间 |
USB接口 | 依据USB2.0全速(USB1.1兼容) |
※安装时需要CD-ROM驱动器。
※Microsoft Windows是Microsoft公司的注册商标。
※Pentium是In公司的注册商标。
※Windows 2000必须IE6.0 SP1以上。
采用的光学系统,实现了*的平行光轴。可减少投光到立体物品上时所产生的阴影,因此,能更正确地检测立体物品的形状。 | ![]() |
计测微米级位移如同使用光电传感器一样方便!LM10
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※1 | EMC适用 |
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除了以往的模拟输出外,还标配了ON/OFF控制输出(单式/复式比较器),使其能作为光电传感器使用。使其适合只有激光才能胜任的“微小光点”和“高精度”用途。
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从目标物体反射出的部分光线,在位置检测元件(PSD)上形成一个与至目标物体的距离相应的光点,通过对不同光点差异的检测,即可测定至目标物体的距离。 | ![]() |
采用单路方式,将以往产品的双路处理改为单路。使运算电路IC化,可实现低成本。 | ![]() |
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除了激光2级产品外,还增加了1级产品系列。高精度非球面塑料透镜的开发成功,在保持高精度的同时还使产品达到1级激光安全标准。可见光点清晰醒目,且使用安全。
微型激光传感器LM10的标准产品符合E C 指令( C E 标志)。不仅十分适用于欧洲的工业设备,而且具有更高的电磁环境性能,可放心使用控制器的比较输出不仅有NPN晶体管输出,还备有PNP晶体管输出。 | ![]() |
9种检测头和4种控制器可以36种不同方式自由组合。与以往的传感器不同,这些检测头和控制器可*互换以满足各种测量类型和处理要求,所以无需对检测头和控制器进行配对管理。
●修理时,假设生产线事故损坏了检测头。如果使用微型激光传感器LM10,只需更换检测头即可。只要有备用传感器,不停止生产线即可解决问题。 | ![]() |