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德国EPK MINITEST 730F2 涂层测厚仪简介:
-创新的SIDSP(探头内部数字信号处理)技术提升了测量的精确性
-测量范围达15mm,可更换F、N或FN探头,供内置或外接探头使用
-FN探头自动识别F(铁磁性)或N(非磁性)基体,操作方便不易出错
SIDSP技术-技术,智能数字化的涂层测厚探头
模拟信号处理时代已成过去,数字信号处理将成为未来的趋势