超声波测厚仪 25 MULTI PLUS-超声波测厚仪 25 MULTI PLUS-深圳泰立仪器仪表有限公司手机版

详细介绍

超声波测厚仪 25 MULTI PLUS美国泛美（奥林巴斯）简介：
Panametrics-NDT 25 MULTI PLUS超声测厚仪为多层材料提供一些特殊的测量能力。除了用于金属测厚、塑料和许多其他具有变化的厚度范围的材料的厚度测量，25 MULTI PLUS可计算和同时显示4个独立的测量值。总和模式精确地显示了所选层数的总厚度。

特性和优点

计算和同时显示4层材料的厚度测量结果，显示所选层数的总厚度

中间层厚度测量，例如塑料油箱和预成型瓶

波形验证的A扫描显示

宽广的测厚范围：0.004～20英寸（0.100～508mm）

分辨率zui高达：0.0001英寸（0.001mm）
内部的字母数字文件数据记录器可存储18000个厚度读数和1750个波形。

中间层模式特性，使得有可能测量像油箱和预成型瓶这类多层塑料产品中重要的中间层。这种特殊的模式可显示薄中间层的厚度，这是用通常的超声测厚仪很难测量的，因为不能将中间层的前表面回波和后表面回波分开。

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