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Sartorius赛多利斯精密天平Secura1103-1CEU
面议PPrecisa普利赛斯精密天平XB160M
面议Precisa普利赛斯精密天平XB320C
面议Precisa普利赛斯精密天平XB620C【停产】
面议Precisa普利赛斯精密天平XB3200D
面议Precisa普利赛斯精密天平XB10200G
面议METTLER梅特勒精密天平PL1001-L 【停产】
面议常熟双杰TC/TCH系列电子天平TC30K-HA
面议常熟双杰TC/TCH系列电子天平TC10K-HB
面议常熟双杰TC/TCH系列电子天平TC30K-HB
面议常熟双杰计数天平TJ3K
面议常熟双杰计数天平TJ6K
面议产品说明
1、可广泛应用于农业生产和农业科研,为进行冠层光能资源调查,测量植物冠层中光线的拦截
研究作物的生长发育、产量品质与光能利用间的关系,本仪器用于400nm~700nm波段内的光合有效辐射(PAR)测量、记录。
2、测量值的单位是平方米/秒上的微摩尔(μmols-1m-2)。
功能特点
1、仪器将显示屏、操作按键、存储SD卡及测量探杆一体化设计,
2、操作简单,体积小,携带方便。
3、存储介质采用SD卡,存储容量大,数据管理方便。
4、具有自动休眠功能。
5、测量方式分为自动和手动两种。自动测量时间间隔最小1分钟,自动测量次数99次,手动测量根据实际需要手动采集。
技术参数
1、测量范围:0~2700μmolm-2s-1
2、分辨率:1μmolm-2s-1
3、相对差度(谱响应):<10%(对植冠)
4、精度:<测量值的±0.5%±1个字
5、准确度:<测量值的±5%±1个字(相对于NIM标准)
6、自动采集间隔:可选1-99分钟
7、自动采集次数:1~99次
8、数据存储容量:2GB(标配SD卡)
9、仪器总长度:75cm
10、探杆长度:50cm
11、传感器数量:25个(标配)
12、电源:2节5号电池
13、工作环境:0℃~60℃;99%相对湿度
14、稳定性:一年内变化<±2%