星砚^®科技

IRT/ZL.01-A系列，800-2000℃，RS485和4-20mA同步输出工业激光LCD显示非接触式红外测温仪       

      IRT/ZL.01-A系列激光LCD显示非接触式红外测温仪可以不接触目标而通过测量目标发射的红外辐射强度计算出物体的表面温度。非接触测温是红外测温仪的优点，使用户可以方便地测量难以接近或移动的目标。

     星砚科技IRT/ZL.01系列具备精确同轴中心激光瞄准功能；

     LCD显示当前状态，可以方便的对正测量目标并指示的测量距离；

     聚焦点可测3mm物体；

      聚焦型激光LCD显示IRT/ZL.01-2000A非接触式红外测温仪适用于铁水溶液及其它金属溶液测温。

   · 非接触式测温;                                                                      · 可调发射率：电位器调节 （0.01-1.00）; 

   · 适用金属材质 ;                                                                     · 反应灵敏，品质

   · 测温范围 800~ 2000℃;                                                       · 可调焦距: 300-1000mm ;   

   · 标准调焦镜头可聚焦至3毫米                                                 · LCD实时显示温度;   

   · 输出信号 4-20mA/RS485同步输出;                                      · 激光精确对准被测物;   

基本详情 

型      号：  IRT/ZL.01-2000A

测温范围:    800~2000℃ 

输出信号:    4-20mA/RS485同步输出

通讯协议：标准ModBus_RTU协议

精 确 度:     ±1.2%（环境温度：23℃±5℃） 

重 复 性:     ± 1℃ 

发 射 率:     0.100-1.099步长0.001

响应时间:    50ms   (95%响应) 

光谱范围:    1.0μm

电源电压:    24 V DC 

距 离 比:      120：1

电流/电阻：80mA/500Ω

焦      距:     300-1000mm  

光斑大小:     3mm

辐射率调节： 电位器调节 （0.01-1.00）

焦      距： 300mm-10000mm可调

显示方式： 四位段式LCD显示

外观属性

材      质:     304不锈钢

尺      寸:     Φ25×174mm

固定螺圈:     M25

电 线 长:      3m（可定制长度）

净       重:     约300g

电气接口： 航空插头

使用环境

环境(IP)等级: IP65（NEMA-4）

工作环境:      0℃~50℃

湿       度:     10-95%(不结露）

储存温度：   -20℃~60℃

调焦方式

探头前段可手动调焦轴距10mm；

固定安装好探头后，将定焦环旋转至位置1；

手动旋转探头镜头，直至激光光斑最亮最小，即为测量焦距；

然后旋转定焦环至位置2，锁住调焦轴。

确定物体的发射率

物体向外发射的红外辐射强度取决于这个物体的温度和这个物体表面材料的辐射特性，我们用发射率（ε-Epsilon）这个参数描述物体向外辐射能量的能力。发射率的取值范围可以从0到99%。我们通常说的“黑体”是指发射率为1.0的理想辐射源，而镜子的发射率一般为0.1。如果用红外测温仪测量温度时选择的发射率过高，测温仪显示的温度将低于被测目标的真实温度——假设被测目标的温度高于环境温度。

低发射率（反光表面）物体由于其他外辐射的干扰或背景目标（火焰、加热系统、耐火材料）而造成的测量误差，在这种情况下减小测量误差，要非常仔细的安装并且保护探头避开反射的辐射源。

确定物体的未知发射率可遵从以下步骤

用其他接触式仪表确定被测物体的真实温度，然后用红外测温仪测量该物体，通过调节发射率设置，使红外测温仪显示值与物体的真实温度一致。

对低温型测温仪，可以将被测物体的一部分表面用发射率为0.98的黑颜料涂平，将红外测温仪的发射率调为0.98，测出该部分的温度，然后测量相邻边缘的温度并调节发射率直到显示值与刚才测量的温度一致。

典型发射率

当上面提到的方法都不能帮助你确定某物体的发射率时，你可以使用附表给出的发射率表。这只是平均值，实际材料的发射率取决于下列因素：材料温度、测量角度、表面的几何形状、材料厚度、材料的表面结构(抛光，氧化，粗糙，喷沙)、测量的光谱范围、透射率（比如薄膜）。