新一代OmniScan带给您更美好的体验

OmniScan X3仪器的软件性能强大，其简洁、现代的菜单结构减少了按键的次数，改进了从开始设置到制作报告的整个检测过程，因此无论新老用户都会得心应手地使用这款仪器。

实时全聚焦方式（TFM）包络处理

仪器的包络处理功能，可以为缺陷生成高清全聚焦方式（TFM）图像。图中的缺陷在背景噪声的衬托下，显得更为清晰鲜明。

屏幕上多可显示4种模式的全聚焦方式（TFM）图像，有助于缺陷的解读和定量

在同一个检测中使用不同的全聚焦方式（TFM）模式（声波组），使检测人员更有希望探测到方向异常的缺陷指示。OmniScan X3探伤仪可以多同时显示4种模式的全聚焦方式（TFM）图像，从而使用户看到从不同角度生成的图像。来自每种模式的响应和特征，如：端部衍射、圆角凹陷和缺陷剖面，可被综合在一起进行分析，从而可以确认缺陷的类型，并提高缺陷定量的性能。

提前确认覆盖区域

声学影响图（AIM）工具可以基于用户的全聚焦方式（TFM）模式、探头、设置和模拟反射体，即刻提供灵敏度的可视化模型。

声学影响图（AIM）工具消除了扫查计划创建过程中的猜测因素，因为屏幕上会显示某个声波组（TFM模式）的效果图，使用户看到灵敏度消失的位置，并对扫查计划进行相应的调整。

屏幕上显示有全聚焦方式（TFM）区域的相控阵超声检测探伤仪

相控阵超声探伤仪提供机载扫查计划创建功能

迅速地投入到检测工作中

机载扫查计划工具有助于用户在开始检测之前观察到检测图像。

• 在一个简单的工作流程中创建包含全聚焦方式（TFM）区域在内的整个扫查计划
• 同时配置多个探头和声波组
• 改进的校准功能和设置验证工具

看似熟悉、实有提升的OmniScan操作体验

OmniScan X3探伤仪虽然保留了OmniScan仪器熟为人知的界面，但却减少了设置和分析所需的步骤。因此拥有OmniScan X2的用户可以快速方便地过渡到OmniScan X3的使用，而新的用户则可以借助OmniScan X3轻松地学习检测知识。

改进的快速校准

OmniScan X3校准菜单可以高速跟踪信号。检测人员可以在几分钟之内简单轻松地完成多组校准。

检测人员正在使用手提电脑上的相控阵检测软件

利用PC机的强大功能

OmniPC软件为用户提供一套高级工具，如：并排显示视图的功能，这种视图可使用户在屏幕上比较两个文件，从而在分析数据时更加充分地利用PC机的性能。

• 将数据方便地导出到USB存储盘
• 观察焊缝左右两侧的图像
• 在同一个屏幕上将当前和以前捕获的检测数据放在一起进行比较

改进的相控阵技术

• 速度是OmniScan MX2探伤仪的2倍（脉冲重复频率）
• 单独的衍射时差（TOFD）菜单，加快了工作流程
• 改进的快速相控阵校准，使用户享有更轻松的操作体验
• 800%的高波幅范围，减少了重新扫查的需要
• 机载双晶线阵和双晶矩阵探头的支持性能，加速了创建设置的过程

迅速地投入到检测工作中

机载扫查计划、改进的快速校准和简化的用户界面，有助于省去一些不必要的步骤，从而可使用户在很短的时间内完成检测的设置工作。

如果您是OmniScan MX2仪器的用户，您可以从现有的仪器迅速地过渡到OmniScan X3仪器。如果您还不太了解相控阵超声检测或全聚焦方式（TFM），您可以通过OmniScan X3探伤仪轻松地学习这些知识。

检测团队中的主力成员

OmniScan X3探伤仪所提供的功能有助于用户高效地完成检测工作。这些功能可以在以下应用中大显身手：焊缝检测、管线和管道的检测、耐腐蚀合金的检测、腐蚀成像、高温氢致缺陷（HTHA）的检测、初期裂纹的探测、复合材料的检测和缺陷成像。

• 与现有的探头和扫查器相兼容
• 32:128PR型号，提供64晶片的全聚焦方式（TFM）功能
• 还提供16:64PR和16:128PR型号
• 多8个声束组，1024个聚焦法则
• 与OmniScan MX2/SX仪器的文件相兼容，方便了用户转换到新仪器的操作
• 64 GB的内置存储容量，还可以借助外置USB驱动盘扩展存储容量