线宽测试系统OE4000

线宽测试系统OE4000

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具体成交价以合同协议为准
2024-06-03 11:55:40
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谱线光电科技(武汉)有限公司

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产品简介

特性 波长测量范围:630-2200nm RIN噪声测量 超低相位/频率噪声测量 ......

详细介绍

武汉谱线科技代理的美国OEwaves公司的线宽测试系统OE4000采用零差法,对超低相位噪声的连续激光光源进行全自动测量。测量过程简单快速,并且不需要外置的参考光源,能够实现小于3Hz的线宽测量,同时能够进行波长范围、本底噪声、输入功率、RIN测量等功能扩展。


主要指标:

相位本底噪声:-140 ± 2 dBc/Hz @ >1 MHz

光输入功率范围:+5 ~+ 15 dBm

失调频率范围:10 Hz ~1 MHz 

分辨率带宽:0.1 Hz ~200 kHz


测试数据:

       

偏移频率(Hz) 

 

线宽及噪声测量系统OE4000



谱线科技-OEwaves线宽及噪声测量系统OE4000产品规格书


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