结构测试ICP加速度传感器

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2024-05-24 11:41:37
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结构测试ICP加速度传感器结构测试ICP加速度传感器及其附件都经过特别设计,用以解决多点模态与结构测试应用的需求

详细介绍

结构测试ICP加速度传感器

结构测试ICP加速度传感器及其附件都经过特别设计,用以解决多点模态与结构测试应用的需求。这些设备是与辛辛提那大学结构力学研究实验室共同研发的,并在实际测试运用中得到验证。

加速度传感器具有高输出性的特点,压电陶瓷传感器在测量低振幅振动有较好的输出信号。通过采用超轻材料壳体来降低附加质量的影响。被测试件的相位偏差是在模态分析中要重点考虑的方面。

在这系列中的每个元件都包括TEDS功能选项。内置数字电子数据表(TEDS) 的传感器,其拥有内直读/写储存器,包含了传感器及其使用信息。TEDS传感器有内置存储器,其包括IEEE1451 .4标准要求的生产厂商名称、产品规格以及相关校准信息,有效的赋予测试系统自我识别功能。压电内部电荷放大器采用同传统的传感器相同的两线设计, TEDS可以进行模拟与数字模式的转换,可对典型的模拟输出或数字流输出进行选择。虽然TEDS传感器能够与ICP信号适调仪相连接,但只有TEDS功能的ICP信号适调仪支持数字连接模式。

安装垫、多芯信号电缆、接线面板,都有助于控制和有序组织传感器阵列的电缆束,减少设置时间和潜在错误。这些潜在错误经常由多通道结构测试的线路混乱所引起。

结构测试ICP加速度传感器可应用于:

结构振动测试

多通道模态分析

相关模态分析

设计研究

应力响应模拟

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