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1650nm 扩散式激光准直器气室 光纤类型9/125μm
面议1370nm 扩散式激光准直器气室 带宽±20nm FC/APC
面议640B压力控制器 控制器满标度范围低至10Torr 用于低压过程
面议无掩膜数字光刻机 波长365nm 分辨率1.0um 灰度光刻64levels
面议近红外TDLAS NH3氨气ppm浓度分析系统 1512nm
面议氧气20米长光程气体紧凑型吸收池 700-800nm 光纤HP780
面议1370nm 扩散式激光准直器气室 带宽+/-20nm FC/APC
面议扩散式激光准直器气室 1650nm 光纤类型9/125μm
面议光纤耦合气体吸收池 波长范围1525-1565nm 波长精度<±0.2pm
面议氟化氢HF气体传感和校准 气体吸收池 1255-1351nm 透射率>45%
面议C波段波长校准器 波长范围1510-1540nm 波长精度<±0.3pm
面议中红外3米低成本全光纤气体吸收池 波长范围1900-2400nm
面议Optical Waveguide Polishing and Inspection
Cila 2.0光学波导,光纤阵列V型槽抛光和检测系统可以抛光和检测多种类型的光波导、多光纤阵列V型槽,以及需要共面、平面、倾斜或多面端面的类似组件。该系统配备了一个剖面图,高分辨率摄像机,允许用户监控抛光过程,进行余量去除和角度验证。具有精确定位能力的明视场检测系统,能够对设备抛光端面进行质量检测。
产品特点
缺陷和无断裂零件浇注,精确到+/-0.01度
钛/聚醚醚酮混合嵌件夹具,用于提高亚微型零件的耐用性
用于较大波导和阵列的可调宽度夹具
精密进料,用于精确的余量去除和长度控制(1 um长度控制)
抛光角度验证和长度测量的计量选项
利用高分辨率摄像机和精密玻璃光学器件,可定位明视场视频检测能力。通过500倍的放大率查看所有关键区域/边缘
左:适用于较大波导和阵列的可调宽度夹具 右:适用于超小型阵列的精密夹具
玻璃、硅和类似材料的无切屑精确获取
抛光/寄生角和长度测量
在线端面检查、抛光/寄生角和长度测量
Optical Waveguide Polishing and Inspection
Cila 2.0光学波导,光纤阵列V型槽抛光和检测系统可以抛光和检测多种类型的光波导、多光纤阵列V型槽,以及需要共面、平面、倾斜或多面端面的类似组件。该系统配备了一个剖面图,高分辨率摄像机,允许用户监控抛光过程,进行余量去除和角度验证。具有精确定位能力的明视场检测系统,能够对设备抛光端面进行质量检测。
产品特点
缺陷和无断裂零件浇注,精确到+/-0.01度
钛/聚醚醚酮混合嵌件夹具,用于提高亚微型零件的耐用性
用于较大波导和阵列的可调宽度夹具
精密进料,用于精确的余量去除和长度控制(1 um长度控制)
抛光角度验证和长度测量的计量选项
利用高分辨率摄像机和精密玻璃光学器件,可定位明视场视频检测能力。通过500倍的放大率查看所有关键区域/边缘
左:适用于较大波导和阵列的可调宽度夹具 右:适用于超小型阵列的精密夹具
玻璃、硅和类似材料的无切屑精确获取
抛光/寄生角和长度测量
在线端面检查、抛光/寄生角和长度测量
更新时间:2023/5/24 17:35:26