分立器件特性参数测试是对待测器件（DUT）施加电压或电流，然后测试其对激励做出的响应，通常分立器件特性参数测试需要几台仪器完成，如数字万用表、电压源、电流源等。然而由数台仪器组成的系统需要分别进行编程、同步、连接、测量和分析，过程既复杂又耗时，又占用过多测试台的空间；而且使用单一功能的测试仪器和激励源还存在复杂的相互间触发操作，有更大的不确定性及更慢的总线传输速度等缺点。实施半导体分立器件特性参数分析的最佳工具之一是数字源表（SMU）。数字源表可作为独立的恒压源或恒流源、伏特计、安培计和欧姆表，还可用作精密电子负载，其高性能架构还允许将其用作脉冲发生器、 波形发生器和自动电流-电压(I-V)特性分析系统，支持四象限工作。微电子器件材料电性能测试SMU源表认准普赛斯仪表

针对OFET等三端类型器件以及多样品验证测试，可直接通过2台数字源表或者插卡式源表搭建完整的多通道测试系统。

- 国产化数字源表，四象限工作

- 单通道/多通道方案可选

（最高可实现40通道同时测量）

- 支持直流/脉冲测试，测量范围广

- 分辨率强，测试精度高

武汉普赛斯是国内醉早生产源表的厂家，产品系列丰富：产品覆盖不同的电压、电流范围，产已经过了市场的考验、市面有近500台源表在使用，市场应用率高；SXXB系列高精度数字源表，相比于传统S系列源表，直流更大、精度更高、准确度提升至±0.03%，直流电流升级至3A，可为半导体行业提供更加精准、稳定的测试方案；微电子器件材料电性能测试SMU源表认准普赛斯仪表！