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厂 商:日本电子株式会社
型 号:JEM-2100F(特制)
到货日期:2013-3-5
主要仪器参数:
● 电子光源:200KV 场发射
● 极限分辨率:0.45 nm
● 磁场范围:水平方向:-600~600 Oe
● 温度范围:室温
主要用途:
JEOL-2100F洛伦兹透射电子显微镜以其的物镜设计可以使样品区域电镜产生的磁场小于10 Oe,同时保持0.45 nm的晶格分辨率,从而实现对剩磁状态下的磁性材料内部磁结构表征。适用于薄膜、块体、粉末等多种形态样品。主要用途如下:
1.普通形貌、选区电子衍射。
2.利用加磁场样品台可对样品水平方向施加磁场,原位观测加场过程的磁结构变化。
3.本电镜还配有电子双棱镜附件可同时分析磁性材料的磁畴结构和样品内部磁场电场分布。