简单型透射偏光熔点仪 XPR-200详细技术参数
一、仪器的用途
透射热台偏光显微镜是地质、矿产、冶金、石油化工、化学纤维、半导体工业以及药品检验等部门和相关高等院校的高分子等专业的专业实验仪器。与光学或电子显微镜配合使用，在微观上观察其溶化、升华、结晶过程中的状态和各种变化。
专为材料学、生物化学、冶金学、有机化学、高分子材料学而研制。观察高聚物熔融和结晶过程中的形态,结晶速率及动力学计算；观察双折射体的光学效应；微生物形貌观察；组织细胞核、壁形态观察；地质材料偏光形态观察；无机晶体材料观察,特别对含有结晶体的材料进行热性能变化的研究更为重要。
二、技术参数
1.目镜
2.物镜
| 类别 | 放大倍数 | 数值孔径(NA) | 工作距离(mm) |
无应力平场
消色差物镜 | 4X | 0.1 | 17.5 |
| 10X | 0.25 | 6.6 |
| 40X | 0.65 | 0.64 |
| 100X | 1.25 | 0.19 |
3.光学放大倍数：40X 100X 400X 1000X
4.目镜管：转轴式（倾斜30°）360°旋转 含检振片
5.起振片：可转动荡
6.载物台：机械式附加旋转台面 尺寸 φ100mm， 360°旋转
7.调焦机构：粗微动同轴，齿轮转动 ， 带限位及调节松紧机构
8.聚光镜：阿贝聚光镜NA1.25，升降上下可调
9.光源：钨卤素灯6V/20W，亮度可调
10.防霉系统：防霉
11.成像系统:配置日本JVC高像素CCD,像素达47万；
12.高精熔点测定仪(具体参数见熔点仪资料)
①电压：220V±10%,AC45－60HZ
②温度设定方式：数字显示、预置
③温度控制范围：室温-300℃
④温度精度：±1℃； 控制精度：±1%
⑤测试量：小于0.1mg
⑥系统工作环境温度：15－40℃
三、系统组成
电脑型 (XPR-200V)：1.显微镜 2.适配镜 3.摄像器 4.A/D(图像采集) 5.N型热台
数码型 (XPR-200D)：1.显微镜 2.适配镜 3.数码相机 4.N型热台
四、总放大参考倍数
XPR-200V型：40--4000倍 XPR-200D型：100--2000倍
五、选购件
1．目镜：16X(Φ11mm) 2．物镜：20X 60X 80X 4. 图像测量软件
