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安捷伦 CARY 100/300 系列紫外－可见分光光度计
面议安捷伦 CARY 4000/5000/6000i 系列紫外－可见－近红外分光光度计
面议安捷伦 CARY 60 紫外－可见分光光度计
面议Cary 7000 型分光光度计(UMS) 研究镜面反射的角度关系
面议Agilent Cary 3500 紫外-可见分光光度计产品样本
面议新一代Cary4000/5000/6000i分光光度计的光度线性范围
面议安捷伦 4100 EXOSCAN FTIR 光谱仪
面议安捷伦 CARY 630 FTIR 光谱仪
面议安捷伦 4100 微波等离子体原子发射光谱仪
面议安捷伦 CARY ECLIPSE荧光光谱仪
面议Agilent 7890B 气相色谱仪
面议Agilent 7697A GC 顶空进样器
面议下载地址2：使用微型 ATR FTIR 成像系统在电子和半导体行业中进行无损故障/缺陷分析
电子和半导体行业高度依赖于故障和缺陷分析，以提高工作效率并缩短昂贵的停机时间。随着技术的不断发展，生产出的设备越来越小巧，而其生产工艺也越来越复杂精细。因存在颗粒物和化学污染物引起的高成本停机对正常生产操作的影响越来越大。任何污染物的出现都需要停止生产过程，同时准确并可靠地表征缺陷、确定污染源并设法补救。限度缩短完成这一过程所需的时间，
实际上能够节省数百万美元之多。
安捷伦 Cary 620 化学成像系统利用 FPA（二维矩阵检测器元件，可产生行和列像素）来采集精密组件表面的真实组成图像。