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功能简介:
利用标准试块自动生成DAC、AVG曲线;
自动显示回波相关参数(深度D、水平P、距离S、波幅H)
自由切换三种标尺(深度D、水平P、距离S)
多个独立探伤通道,可输入并存储探伤标准(可根据用户需求扩展);
自动计算缺陷当量φ值;
两种探测方式:峰值、边沿;
三种探头方式:单晶、双晶、穿透;
回波抑制;
自动增益、回波包络功能提高了探伤效率;
斜探头角度和K值两种输入方式;
闸门声光报警。
利用PC通讯软件可以升级仪器系统的功能;
锂电池供电,可连续工作10小时;
技术参数:
| Leeb522 |
屏幕显示 | 彩显 |
扫描范围 | 0 ~ 10000 |
垂直线性误差 | ≤2% |
水平线性误差 | ≤0.1% |
探伤灵敏度余量 | ≥65dB(深200mnφ2平底孔) |
动态范围 | ≥34dB |
分辨率 | ≥45dB |
频率范围(MHz) | 0.5 ~ 20 |
增益调节(dB) | 0 ~ 120 |
B扫 | 有 |
两孔测试法 | 有 |
探伤录像 | 有 |
PC通讯 | 有 |
三防功能 | 有 |
DAC/AVG曲线 | 有 |
材料声速(m/s) | 1000 ~ 9999 |
回波抑制 | 0 ~ 80% |
工作温度(℃) | -27 ~ 70 |
外形尺寸(mm) | 240*160*40 |
重量(Kg) | 1150g |
标准配置 | 主机、电源适配器、直探头、斜探头、探头连接线 |
可选配件 | 通讯软件、数据线、探伤试块、探头、探头连接线 |