产品关键词：斜坡电压电流测试（Ramp-IV）、阶梯电压电流测试（Step-IV）、脉冲电压电流测试（Pulse-IV）、开关瞬态光电流（on-off TPC）、开关瞬态光电压（on-off TPV）、暗注入瞬态特性测试（DIT）、深能级瞬态谱（DLTS）、暗态线性增压电荷抽取测试（Dark-CELIV）、光态线性增压电荷抽取测试（Photo-CELIV）、电荷抽取测试（CE）、阻抗谱测试（IS）、电容电压测试（CV）、强度调制光电流谱（IMPS）、强度调制光电流谱（IMPS）、强度调制光电流谱（IMPS）、光电器件瞬态特性（时域/频域测试）、电致发射谱（ELS）、多功能载流子瞬态特性分析 、线性增压测试、阻抗谱分析仪、电容电压互感器

Product Keywords: Ramp voltage current test (RAMP-IV), Step voltage current test (STEP-IV), Pulse voltage current test (Pulse-IV), switching transient photocurrent (on-off TPC), switching transient photovoltage (on-off) TPV), Dark injection transient Characteristic test (DIT), Deep level transient spectrum (DLTS), dark state linear boost charge extraction test (Dark-CELIV), light state linear boost charge extraction test (Photo-CELIV), charge extraction test (CE), impedance spectrum test (IS), capacitor voltage test (CV), intensity modulation Photocurrent spectrum (IMPS), Intensity modulated Photocurrent Spectrum (IMPS), Intensity modulated Photocurrent Spectrum (IMPS), transient characteristics of optoelectronic devices (time/frequency domain testing), electroemission spectrum (ELS),Linear boost test, impedance spectrum analyzer, capacitance voltage transformer

▌ 产品简介

UltraTran是一款集成了多种光电测试功能的仪器设备，专门针对半导体材料和器件的电学与光电特性进行精确测量，尤其适用于发光（OLED、PeLED等）与光伏器件（OPV、晶硅PV、异质结叠层PV等），该设备核心功能包括：

1）斜坡电压电流测试（Ramp-IV）、阶梯电压电流测试（Step- IV）和脉冲电压电流测试（Pulse-IV）。这些测试模式使得用户能够以不同的电学激励方式对样品进行扫描，从而获得关于样品在不同激励下的电学性质。Ramp-IV以连续的方式提供电压扫描，适用于捕捉材料响应的连贯变化；Step-IV则以逐步阶梯的方式提供电压，适合观察材料在不同电压阶跃下的稳态行为；而Pulse-IV通过短时的电压脉冲，允许研究器件的动力学IV特性，也可以有效减少器件的热阻，增加器件的注入电流。

2）UltraTran还提供了开关瞬态光电流（on-off TPC）和开关瞬态光电压（on-off TPV）测试，这些功能适合于研究材料在光照激发下的上升和下降过程【瞬态光电流/光电压/光电荷测试参考我司TranPVC产品】。

3）暗注入瞬态特性测试（DIT）和深能级瞬态谱（DLTS）是可以用于探测和分析半导体中的陷阱和缺陷状态。DLTS技术尤为擅长于识别和量化材料中的微小缺陷浓度，为改善半导体材料质量提供关键信息。

4）设备还支持暗态线性增压电荷抽取测试（Dark-CELIV）和光态线性增压电荷抽取测试（Photo-CELIV），这两种模式能够测定电荷在半导体内的传输和复合机制，得到迁移率等参数。

5）等效电荷抽取测试（CE），可以研究器件的电荷浓度。

6）阻抗谱测试（IS）、电容电压测试（CV）等功能则为设备增加了额外的维度，使其能够全面评估材料的阻抗和介电性能。

7）强度调制光电流谱（IMPS）和强度调制光电压谱（IMVS）为研究者提供了一种特别的方法来探究材料对光强变化的频率响应，这对于光伏材料和应用尤为重要。

8）电致发射谱（ELS）为研究材料的电致发光特性，得到光谱、色坐标等参数。

▌ 测试功能

□ 斜坡电压电流测试（Ramp-IV）； 

□ 阶梯电压电流测试（Step-IV）；

□ 脉冲电压电流测试（Pulse-IV）； 

□ 开关瞬态光电流（on-off TPC）； 

□ 开关瞬态光电压（on-off TPV）；

□ 深能级瞬态谱（DLTS）；

□ 暗注入瞬态特性测试（DIT）；

□ 暗态线性增压电荷抽取测试（Dark-CELIV）。

□ 光态线性增压电荷抽取测试（Photo-CELIV）； 

□ 电荷抽取测试（CE）；

□ 阻抗谱测试（IS）； 

□ 电容电压测试（CV）； 

□ 强度调制光电流谱（IMPS）；

□ 强度调制光电压谱（IMVS）；

□ 电致发射谱（ELS）；

▌ 产品应用

□ 半导体：有机半导体、金属-有机框架、共价有机框、钙钛矿材料、二维材料、元素半导体（Si、Ge等）、化合物半导（InGaAs等）、宽带隙第三代半导体、量子点半导体、其它半导体材料；

□ 光伏材料器件；

□ 发光材料器件；

□ 光催化材料器件。

▌ 功能模块