镀层测厚仪器

镀层测厚仪器

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2022-12-20 11:01:19
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深圳市仲达科技有限公司

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产品简介

E3是一款通用型能量色散型X射线荧光光谱仪(EDXRF),专门用于镀层厚度检测;其核心部件采用美国进口,软件算法采用美国EDXRF前沿技术,仪器所用标准样品均有第三方检测机构报告;精密度、准确度、检出限等技术参数全面超过国内外同类仪器,特别针对大件异形不平整样品,无需拆分,直接测试即可达到精确的测试效果。

详细介绍

1.1全自动三维样品台

E3-3D:三维定位镀层测厚仪器


1.2 X射线向下照射式,激光对焦

E3-3D:三维定位镀层测厚仪器


1.3小光斑设计

E3-3D:三维定位镀层测厚仪器


1.4测试时间灵活性调节

E3-3D:三维定位镀层测厚仪器


1.5多规格样品仓

E3-3D:三维定位镀层测厚仪器


1.6 X-Ray探测器

HeLeeX E3-3D采用美国原装全进口一体式X-123半导体X射线探测器,其*的半导体制冷技术,高峰背比(信噪比),超高计数率,*的分辨率和稳定性以及高集成化等特点,超越其他品牌或同品牌的组装探测器

E3-3D:三维定位镀层测厚仪器

探测器

● 类型:X123探测器(高性能电致冷半导体探测器)

● Be窗厚度:1mil

● 晶体面积:25mm2

● 分辨率:145eV

●信号处理系统:DP5


X射线管

●电压:0-50v

●电流;2mA

●功率:50W

●靶材:Mo

●Be窗厚度:0.2mm

●使用寿命:大于2w小时


高压电源

●输出电压:0-50Kv

●灯丝电流0-2mA

●功率:50w

●纹波系数:0.1%(p-p值)

●8小时稳定性:0.05%


摄像头

●焦距:微焦距

●驱动:免驱动

●像素:500万像素


准直器、滤光片

●系统:快拆卸准直器、滤光片系统

●材质:多种材质准直器

●光斑:光斑大小Φ0.2mm、Φ1.0mm、Φ2.0mm、Φ4.0mm可选


十字激光头

●光斑形状:十字线

●输出波长:红光650nm

●光学透镜:玻璃透镜

●尺寸:Φ10×30mm

●发散角度:0.1-2mrad

●工作电压:DC 5V

●输出功率:<5mW

●工作温度:-10~50℃


其它配件

●开关电源:进口高性能开关电源

●散热风扇:进口低噪声、大风量风扇

● 外形尺寸:360 mm x 600mm x 385 mm (长x宽x高)

● 样品仓尺寸:360mm×400mm x160(长x宽x高,高度可定制)

● 仪器重量:50kg

● 供电电源:AC220V/ 50Hz

● 功率:330W

● 工作温度:15-30℃

● 相对湿度:≤85%,不结露

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