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面议OmniScan MX ECA用于进行涡流阵列检测。其检测配置支持32个传感器线圈(使用外置多路转换器可支持64个线圈),其工作模式可为桥式或发送接收式。其工作频率范围为20 Hz到6 MHz,带有一个可以在同一采集操作过程中使用多频的选项。涡流阵列检测涡流阵列技术涡流阵列技术(ECA)以电子方式驱动同一个探头中多个相邻的涡流感应线圈,并解读来自这些感应线圈的信号。通过使用多路技术采集数据, 可避免不同线圈之间的互感。 OmniScan ECA检测配置在桥式或发射-接收模式下可支持32个感应线圈(使用外部多路器可支持的感应线圈多达64个)。操作频率范围为20 Hz~6 MHz,并能选择在同一采集中使用多频。涡流阵列探头Olympus NDT制造的R/D Tech ECA探头可适用于广泛的应用领域。根据缺陷的不同类型或者被测工件的形状,可以设计出不同的探头。标准探头可检测如裂纹、点蚀等缺陷,以及多层结构中如裂纹及腐蚀等近表面的缺陷。
涡流阵列探头
Olympus NDT制造的R/D Tech® ECA探头可适用于广泛的应用领域。根据缺陷的不同类型或者被测工件的形状,可以设计出不同的探头。标准探头可检测如裂纹、点蚀等缺陷,以及多层结构中如裂纹及腐蚀等近表面的缺陷。
| 涡流阵列的优势同单通道涡流技术相比,涡流阵列技术具有下列优势: | |
| 检测时间大幅度降低。 单次扫查覆盖更大检测区域。 减小了机械和自动扫查系统的复杂性。 提供检测区域实时图像,便于数据的判读。 适用于对那些具有复杂几何形状的部件的检测。 改进了检测的可靠性和检出率(POD)。 |
替代传统的NDT方法,漆层去除已经过时
涡流阵列具有透过导电材料上的薄涂层进行检测的特别性能。与现有的检测方式相比,如:渗透、磁粉或磁光成像(MOI)检测,这个性能具有很大的优势,因为*省去了检测前去除漆层或镀层,检测后再重新涂上漆层或镀层的步骤。这种检测方式可以为用户节省大量的成本,而且重要的是不使用化学制剂进行检测。
Olympus NDT制造的R/D Tech® ECA探头可适用于广泛的应用领域。 根据缺陷的不同类型或者被测工件的形状,可以设计出不同的探头。 标准探头可检测如裂纹、点蚀等缺陷,以及多层结构中如裂纹及腐蚀等近表面的缺陷。 传感器之间的多路转换技术。 涡流阵列探头可以省掉两轴扫查中的一轴,使涡流设置具有更大的灵活性。 探头可以做成不同的形状和尺寸,以更好地适应检测部件的外形。 用于腐蚀检测的发射-接收探头可以探到铝材料中6毫米(0.25英寸)的深度。 用于表面裂痕检测的发射-接收探头以及一个可选编码。 用于表面裂痕检测的式探头。
涡流阵列探头
ECT模式下的OmniScan MX仪器,一款性能强大的探伤仪综合使用ECA和ECT技术
某些检测程序可能特别要求使用ECT技术,但ECA技术在这些应用中又有助于用户节省时间并方便地找到缺陷区域。使用了OmniScan MX ECA,用户就无需在检测开始只使用一种技术。在检测过程中,用户可以随时按住菜单键,即刻在ECA和ECT模式之间进行转换。仪器可以与两种探头保持连接,而且它们的配置设置可以持续处于激活状态。
技术规格 | ||
涡流模块的技术规格 | 外型尺寸 (宽 x 高 x 厚) | 244毫米 x 182毫米 x 57毫米 (9.6英寸 x 7.1英寸 x 2.1英寸) |
| 重量 | 1.2公斤(2.6磅) |
| 接口 | 1个OmniScan®涡流阵列探头接口 1个19针Fischer®涡流探头接口 1个BNC接口 |
| 通道数量 | 32个通道,带内置多路转换器 64个通道,带外置多路转换器 |
| 探头识别 | 自动探头识别和设置 |
发生器 | 发生器数量 | 1个(带内置电子参考) |
| *大电压 | 12 Vp-p,10 Ω |
| 工作频率 | 20 Hz~6 MHz |
| 带宽 | 8 Hz~5 kHz(单线圈中)。同时隙成反比例关系,并通过仪器在多路模式下设定。 |
接收器 | 接收器数量 | 1个~4个 |
| *大输入信号 | 1 Vp-p |
| 增益 | 28 dB~68 dB |
内置多路转换器 | 发生器数量 | 32个(8个时隙时,4个发生器同时工作;使用外部多路转换器时,多达64个) |
| *大电压 | 12 Vp-p,50 Ω |
| 接收器数量 | 4个差分接收器(每个8时隙) |
| *大输入信号 | 1 Vp-p |
数据采集 | 数字化频率 | 40 MHz |
| 采集速率 | 1 Hz~15 kHz(单线圈中)。 速率可由仪器处理能力限制,或通过多路激发模式的延迟设定所限制。 |
| A/D分辨率 | 16比特 |
应用 | |
应力腐蚀开裂解决方案 这些解决方案要使用性能强大、使用方便的OmniScan MX ECA涡流阵列探伤仪来完成。 检测蒙皮叠边中裂纹的解决方案 用于探测蒙皮叠边中裂纹的检测方案利用*的ECA技术探测材料表面以下的缺陷。 C扫描的应用可保证更高的探出率及更好的再现性。在减少检测时间方面,这个解决方案可谓是一个巨大的进步。 ECA表面裂缝探测 表面裂缝ECA解决方案建议用户使用在人体工程学方面得到完善的SBBR-026高分辨率ECA探头类型。 这个解决方案即使在材料涂有漆层及薄镀层的情况下,也可以很快的速度探测到会使材料表面开裂的裂缝。 这个方案特别适用于对飞机上的成排紧固件进行快速检测。 ECA近表面裂缝探测 近表面裂缝ECA检测解决方案可以在无需去除漆层的情况下扫查飞机的层(蒙皮), 以探测到第二层蒙皮上的开裂情况。两种ECA探头类型(商用飞机和飞机)都可以使用这种解决方案。 这两种探头在一次扫查中都可以覆盖至少64毫米长度。 ECA近表面腐蚀探测 近表面腐蚀ECA检测解决方案可以对大面积区域进行快速检测,以发现潜在的腐蚀情况。 两种探头类型(商用飞机和飞机)都可以使用这个解决方案。 这个解决方案可以在无需去除漆层的情况下,即刻评价隐藏腐蚀缺陷的严重程度(缺陷深度)。 |
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