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福禄克ThermoView TV40 工业固定式热成像系统-华普通用
面议德国蔡司多束扫描电子显微镜MultiSEM系列-华普通用
面议德国斯派克GREEN TI 等离子体发射光谱仪-华普通用
面议美国Buehler AutoMet 250 研磨抛光机
面议美国Buehler EcoMet™ 30 自动磨抛机
面议TSI POWERSIGHT固体激光器的激光多普勒测速仪LDV-华普通用
面议德国蔡司 GeminiSEM 场发射扫描电子显微镜-华普通用
面议威尔逊Rockwell 574 洛氏硬度计
面议威尔逊 VH3100 维氏硬度计
面议威尔逊 VH1102和1202维氏硬度计
面议威尔逊 Rockwell 2000洛氏硬度计
面议德国斯派克ICP-OES等离子体发射光谱仪GREEN2
面议GDOES光谱仪GDA 550 HR和GDA 750 HR是大的GDOES光谱仪,非常适合研发任务。基于模块化概念,可以设想多种选项组合,因此可以为您的应用实现配置。GDA 550 HR主要用于研究您的导电样品。GDA 750 HR也用于分析不导电样品。
GDA 750 HR
通过光电倍增管可检测多达79个可能的元素通道,GDA 750 HR辉光放电光谱仪是您的具有挑战性的应用的理想光谱仪。它提供了的灵活性,的检测限和分析精度,即使是的层。
可选的高分辨率SPECTRUMA CCD光学元件扩展了GDA 750 HR的功能,能够将几乎无限数量的元素通道集成到您的分析工作中。
GDA 750 HR的特点:
GDA 750 HR配备了一个可以无碳氢化合物测量的涡旋泵。
GDA 750 HR标准设备还包括一个高频辉光放电源。这也允许分析不导电的样品。
使用等离子体干扰可以更容易地分析难以刺激的样品。
GDA 750 HR的应用领域从热处理到镀锌到复杂的多层系统。
由于PMT的快速数据采集,也可以检测到低于100nm的层
测量深度达200微米
具有快速数据采集的深度剖面,即使对于非导电层(如几纳米厚度的氧化物)也是如此
所有金属和金属合金的含量分析
分析非导电样品,如陶瓷,玻璃或漆涂层
校准曲线的线性
可以测量弯曲甚至形状异常的样品。