JY-JX2023L 硅材料综合测试仪

JY-JX2023L 硅材料综合测试仪

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2024-08-20 10:30:23
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产品简介

JY-JX2023L 硅材料综合测试仪
电阻率 :0.001-200 Ohm*cm,
P/N:0.1 Ohm*cm<电阻率<200 Ohm*cm,
四探针探头:1.59mm 间距

详细介绍

JY-JX2023L 硅材料综合测试仪

电阻率 :0.001-200 Ohm*cm,
P/N:0.1 Ohm*cm<电阻率<200 Ohm*cm,
四探针探头:1.59mm 间距
四探针原理
AC220V
误差:±5%
探头规格:5 点探针
探针间距:1.59mm

 

JY-JX2023L 硅材料综合测试仪

电阻率 :0.001-200 Ohm*cm,
P/N:0.1 Ohm*cm<电阻率<200 Ohm*cm,
四探针探头:1.59mm 间距
四探针原理
AC220V
误差:±5%
探头规格:5 点探针
探针间距:1.59mm

 

 

JY-JX2023L 硅材料综合测试仪

电阻率 :0.001-200 Ohm*cm,
P/N:0.1 Ohm*cm<电阻率<200 Ohm*cm,
四探针探头:1.59mm 间距
四探针原理
AC220V
误差:±5%
探头规格:5 点探针
探针间距:1.59mm

 

JY-JX2023L 硅材料综合测试仪

电阻率 :0.001-200 Ohm*cm,
P/N:0.1 Ohm*cm<电阻率<200 Ohm*cm,
四探针探头:1.59mm 间距
四探针原理
AC220V
误差:±5%
探头规格:5 点探针
探针间距:1.59mm

 

JY-JX2023L 硅材料综合测试仪

电阻率 :0.001-200 Ohm*cm,
P/N:0.1 Ohm*cm<电阻率<200 Ohm*cm,
四探针探头:1.59mm 间距
四探针原理
AC220V
误差:±5%
探头规格:5 点探针
探针间距:1.59mm

 

JY-JX2023L 硅材料综合测试仪

电阻率 :0.001-200 Ohm*cm,
P/N:0.1 Ohm*cm<电阻率<200 Ohm*cm,
四探针探头:1.59mm 间距
四探针原理
AC220V
误差:±5%
探头规格:5 点探针
探针间距:1.59mm

 

 

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