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X-Strata920高效的X射线镀层测厚仪
-Strata920是一款简洁、坚固和可靠的质量控制XRF台式荧光系统，用于简便、快速的镀层厚度测试和材料分析。
The X-Strata920可应用于常规金属处理、电子元器件制造和金属测定（如珠宝鉴定）等行业，完成单层或多层厚度测量。
主要特点包括：;
§ 成本低、快速、非破坏的EDXRF分析
§ 可完成至多4层镀层（另加底材）和15个元素的镀层厚度测试，自动修正X射线重叠谱线
§ 的多元素辨识，广泛覆盖元素表上从钛（原子序数22号）到铀（92号）各元素
测厚行业20年知识和经验的积淀
使用广受推崇的能量色散X射线荧光（EDXRF）技术, X-Strata920可实现如下测试要求：
§ 符合ISO3497标准测试方法：金属镀层——X射线光谱法测量镀层厚度
§ 符合ASTM B568标准测试方法：X射线光谱仪测量镀层厚度，包括金属和部分非金属镀层
§ 至多同时分析25种元素
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日立仪器基于WindowsTM 的软件SmartLinkâ，直观、简单，使用户的生产效率化：
界面主要部分： § A) 待测样品放大的图像 § B) 清晰的测试结果显示：可选择标准或大字符 § C) X射线波谱，显示样品中主要元素 § D) “Stop/Go” 一键测量 |
SmartLink® 基本参数法（FP）软件
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日立仪器基于WindowsTM的SmartLinkâ FP软件：
§ 基本参数法可不需或只需很少数量的标样。 § 仪器预装了超过800种应用参数/方法，便于建立测试程序和日常操作。 § 直观的步骤，可在几分钟内建立新方法。 § 如有结构匹配的标样，基于FP方法的校正程序可提供可信的定量分析结果。 § 如没有结构匹配的标样，可建立一个纯理论的校正程序。 § 如有全套标样，“经验式的”感兴趣区域（ROI）校正方法可以实现的准确度。 |
SmartLink®基本参数法分析
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基本参数法可以快速、准确第测量镀层厚度和材料成分分析：
§ 基于FP的校准覆盖广泛的厚度范围包括复杂的多层应用。 § 基于FP的校准液覆盖广泛的材料。这对包含大量非常规任务的工作特别有用。 § 当有限标样时，基于FP的校准程序提供了可靠的定量分析的手段。 § 当没有标样时，可建立纯理论的校准程序进行半定量分析。 |
数据稳定性：波谱校准标样和自动热补偿
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§ 只需对日立仪器提供的波谱校准（Spec-Cal）标样进行简单、快速的测量，即可检测仪器的性能，即灵敏度和检测器的分辨率。测量结束时，仪器自动完成校准，保证仪器长期稳定性。 § 自动热补偿功能持续测量仪器的温度并做修正，保证短期和长期的数据稳定性。
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定性分析 – 波谱扫描（计数）
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§ 快速、简单的定性分析 § 清晰、简单、可视的元素标识和验证 § 清晰、图形化显示出选定X射线能量区域（keV或通道）在一次测量中录得的信号计数（强度）。 § 波谱和感兴趣区域强度在测量时实时显示。 § 用户可以将感兴趣区域的波谱强度导出、打印、保存、恢复，以及将波谱保存成文本格式以转换至数据表作具体研究。 |
报告生成软件（简洁版）
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§ 可根据客户的具体要求打印定制报告，如：用户可使用预置模板或自制报告模板，并一键实现报告打印。
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