温度冲击试验箱详细资料

一、用途

　　温度冲击试箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件，无一不需要它的理想测试工具.

二、特点

　　1.产品外形美观、结构合理、工艺*、选材考究，具有简单便利的操作性能和可靠的设备性能。设备分为高温箱,低温箱,测试箱三部分,采*之断热结构及蓄热蓄冷效果，试验时待测物*静止，应用冷热风路切换方式将冷,热温度导入测试区实现冷热冲击测试目的.

　　2.采用采用的计测装置, 控制器采用大型彩色液晶人机触控对话式LCD人机接口控制器,操作简单, 学习容易, 稳定可靠,中，英文显示完整的系统操作状况、执行及设定程序曲线。具96个试验规范独立设定,冲击时间999小时59分钟, 循环周期1~999次可设定, 可实现制冷机自动运转，zui大程度上实现自动化，减轻操作人员工作量，可在任意时间自动启动﹑停止工作运行；

　　3.箱体左侧具一直径50mm之测试孔，可供外加电源负载配线测试部件。可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能，并于执行冷热冲击条件时,可选择二槽式或三槽式及冷冲、热冲进行冲击之功能，具备高低温试验机的功能。

　　4.具备全自动，高精密系统回路、任一机件动作，*有P.L.C锁定处理，全部采用P.I.D自动演算控制,温度控制精度高.*科学的空气流通循环设计，使室内温度均匀，避免任何死角;完备的安全保护装置，避免了任何可能发生安全隐患，保证设备的*可靠性

　　5.可设定循环次数及除霜次数自动（手动） 除霜. 出风口于回风口感知器检测控制，风门机构切换时间为10秒内完成，冷热冲击温度恢复时间为5分钟内完成。运转中状态显示及曲线显示,发生异常状况时,萤幕上即刻自动显示故障点及原因和提供排除故障的方法,并于发现输入电力不稳定时,具有紧急停机装置。

　　6.冷冻系统采用复迭高效低温回路系统设计，冷冻机组采用欧美*压缩机，并采用对臭氧系数为零的绿色环保（HFC）制冷剂R507，R23.*安全保护功能：电源过载保护、漏电保护、控制回路过载、短路保护、压缩机保护、接地保护、超温保护、报警声讯提示等。

三： 温度冲击试验箱主要技术指标

1、工作室尺寸：测试区  ：450mm×600×400（D×W×H） 外箱尺寸：1950×1080×1550ｍｍ（D×W×H）

2、温度范围：　高温箱＋60℃～200℃ 低温箱－40～－10℃

3、温度波动度：±0.5℃

4、温度误差：≤±3℃
5、升温速率：30℃～＋150℃　≤30min

6、降温速率：＋30℃～－55℃　≤75min

以上指标均在常压、空载条件情况下测试。

7、样品转换时间：≯15ｓ

8、温度恢复时间.

9、＋150℃～－40℃温度冲击恢复时间，≤5min

试验状态：预冷温度：－55℃

10、－40℃～＋150℃温度冲击恢复时间，≤5min

试验状态：预热温度：180℃

温度冲击恢复时间以传感器测试位置为准

11、电　源：380V、50HZ；三相五线制.

12、功　率：约45KW.

13、传感器位置：出风口；

四：满足的试验方法

1、GB2423.1－89　试验A低温试验方法

2、GB2423.2－89　试验B高温试验方法

3、GB2423.22－89　试验N温度变化试验方法

4、GJB150.3-86　高温试验

5、GJB150.4－86　低温试验方法

6、GJB150.5－86　温度冲击试验

7、产品执行标准

8、GB10589－89　低温试验箱技术条件

9、GB11158－89　高温试验箱技术条件

10、GB10592-89　高、低温试验箱技术条件

11、配件技术资料及附件

12、技术资料：产品合格证、使用说明书、电气原理图、保修卡、外购件合格证及外购件使用说明书等

13、附件：易损件一套。