激光剥蚀-激光诱导击穿光谱复合系统

J200 LA-LIBS激光剥蚀-激光诱导击穿光谱复合系统

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2020-07-27 11:32:48
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产品简介

J200 LA-LIBS 激光剥蚀-激光诱导击穿光谱复合系统使用Clarity复合系统分析软件,分析人员可应用单变量或多变量校准模型进行准确的定量分析。通过参考标准浓度值直接赋值给LIBS或ICP-MS强度,单变量校准曲线可轻松生成

详细介绍

J200 LA-LIBS 激光剥蚀-激光诱导击穿光谱复合系统使用Clarity复合系统分析软件,分析人员可应用单变量或多变量校准模型进行准确的定量分析。通过参考标准浓度值直接赋值给LIBS或ICP-MS强度,单变量校准曲线可轻松生成。该软件附带一个常用的固态标样,用于单变量校准,Axiom LA软件是ICP-MS数据管理和分析工具,这些工具对于获得精确的定量结果和精确的统计非常重要,同时,时间分辨ICP-MS信号也可以非常流畅,并且可以轻而易举地获得TRSD(时间相对标准偏差)统计学数值。

控制系统:
1、J200气体控制系统使用了两个高精度、数字化质量流量控制器(MFC)和电子控制阀,用于氩气、氦气及补充气体的输送。
2、运输气体和补充气体流向样品室,ICP-MS系统按顺序自动运行,并被精确控制,带来理想的气流,防止等离子体火焰熄灭。预设配置可以选择输送氩气、氦气或补充气体。

元素的快速深度剖析:
在目标点的重复激光采样过程中,Clarity LIBS分析软件中的DepthTracker?能瞬时监测所选元素的LIBS发射峰值强度,揭示不同样品深度处元素组成的变化。DepthTracker?对于确定样品表面的污染物、执行涂层分析、了解薄膜结构以及识别位于其下方的夹杂物是一项非常有价值的功能。

J200 LA-LIBS 激光剥蚀-激光诱导击穿光谱复合系统用于高效分析LIBS光谱和时间分辨ICP-MS信号,分析人员可以在样本图像上编写任意的激光采样模式的程序,包括光栅线、曲线、随机点、任意大小的网格和预先编程的图案,能够快速而准确地识别复杂的LIBS发射峰。特定的搜索标准(波长范围、元素组、等离子体激发状态)可以用来在短时间内缩小搜索范围。TruLIBS?允许用户从Axiom LA软件直接加载实验库LIBS光谱来识别和标记峰值。

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