《特定场景下的微控制器低功耗水平评价方法》征求意见
- 来源：中国电子工业标准化技术协会
- 2022/5/13 11:36:12
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为了制定针对嵌入式微控制器功耗测量方法的标准，日前，中国电子技术标准化研究院，联合南京低功耗芯片技术研究院有限公司等多家单位起草编制了《特定场景下的微控制器低功耗水平评价方法》团体标准征求意见稿，并于近日公开征求意见。
微控制器产品功能众多、应用范围广泛，市场上有数以千百计的生产厂家。但市面上的微控制器产品彼此之间往往是功能相似，但实现细节大不相同，进而导致不同的产品的开发环境、控制模式也各不相同，不同芯片在性能和功耗水平上有不同的取舍。
为指导特定场景下的微控制器低功耗水平测试，2021年1月由中国电子技术标准化研究院牵头，联合微控制研制单位进行了调研和分析，初步确定了特定场景下的微控制器低功耗水平测试方案，明确了后续相关的工作内容，包含测试方法、测试工具及测试内容三大板块。
2021年6月9日，中国电子技术标准化研究院，联合南京低功耗芯片技术研究院有限公司、无锡中感微电子股份有限公司、北京兆易创新科技股份有限公司、北京芯可鉴科技有限公司、上海灵动微电子股份有限公司等多家企业正式申请立项，并通过评审。
按照中国电子工业标准化技术协会团体标准制修订项目工作安排，标准起草组已完成《特定场景下的微控制器低功耗水平评价方法》团体标准(项目号：CESA-2021-3-007)征求意见稿的编制工作。现按照该协会《团体标准制修订程序(试行)》的要求，公开征求意见。
请各有关单位认真研究，填写“意见反馈表”，于2022年6月11日前，以电子邮件方式反馈至以下联系人。涉及修改重要技术指标时，应附上必要的技术数据。逾期未复函的按无异议处理。
相关资料下载：
《特定场景下的微控制器低功耗水平评价方法》及意见反馈表.rar
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