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Jandell通用四点探针系统

　　Multiheight Probe与我们的RM3000测试单元相结合，是迄今为止我们醉 受 欢 迎的一套设备。

　　这种组合允许从带有TCO或金属层的玻璃载片，到晶片shen至深达250mm的锭块测量各

　　种样品。

　　如果要测量较高的样品，可选择较长的柱子，底座可用于测量直径达250mm的样品或直径达300mm的样品。

　　可以将微定位台或多定位台安装到基座上，以便能够测量小样品或晶片。

　　300毫米版本配备RM3000测试单元控制的自动Z轴。

　　英国jandel 四探针主要产品及关键词：

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　　产品均为欧洲，提供报关单，发票(发货同时提供)，个别 具体客户有需要，可提供原产地证明(须+手续费,欧洲厂家付给当地商会，手续较麻烦，会延误1周货期)

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　　诚信公告：Heilna不是该产品的代理商，只是一个贸易商。我们qin自把德国产品以优廉价格进 口到中国!此公告旨在维护中国工业品市场的良好交易。