镀金膜厚仪_金东霖对被测样品发射一束一次X射线，样品的原子吸收X射线的能量后被激发并释放出二次X射线。每个化学元素会释放出特定能量的X射线。通过测量这些释放出的二次X射线的特征能量和强度，X射线分析仪就能够对被测材料的镀层厚度和成份提供定性和定量分析。
传统的楔切法，光截法，电解法，都是有损检测。而X射线它采用非接触式穿透测量法，既不会伤害材料，更不会受板型、现场条件、洁净度等因素的影响。并且测量稳定、准确还可以对大部分磁性或非磁性材料进行测量。 

镀金膜厚仪_金东霖硬件配置（均为美国标准配）：
*  射 线 管：微聚焦型W靶鈹窗X射线管功率50W
*  激发电源：仪器可调节式高压电源30-40-50KV高压激发电源
*  检 测 器：数字半导体接收器
*  滤 波 器：镍（Ni）滤波;铝（AI）滤波；和空气滤波三种
*  准 直 器：4个（自动司服转化功能）
   圆 形4个: 0.1φ, 0.2φmm,0.3φmm，1.5φmm
*  摄像系统：彩色CCD摄像系统。
*  整体外观尺寸：长*宽450*450mm 整体重量：32KG
   样品的测量台：XY轴可移动样品台
   样品室，室内尺寸：长*宽*高=360*380*240 
*  搭载自动制作生成图文测量检验报告书
*  戴尔E390商务电脑及19寸液晶显示器（戴尔原装电脑具体配置随机性）
   智能英特尔  奔腾  G630处理器；OptiPLex(TM) 390MT机箱
   1GB（1x1GB）Non-ECC DDR3 1333MHZ SDRAM Memory
   500GB 7200 RPM 3.5 SATA Hard Drive，DeLL IN1930 19英寸显示器
*  工具配置箱一件，样品环二个，样品膜一卷（可使用数年）