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4511M4颗粒碰撞噪声检测仪（PIND）4511M4
颗粒碰撞噪声检测仪：中文：www.pindtest.com.cn
美国SD公司的颗粒碰撞噪声检测仪用于电子元器件封装后，对器件内多余粒子碰撞噪声检测试验，目的在于检测器件封装腔体内存在的自由粒子，是一种非破坏性实验。 用来测试电器零件从而提高电器零件的可靠性。用于检测集成电路、晶体管、电容器、航空/航天/军事领域的继电器等电子元器件封装内的多余物松散颗粒。 参考价面议 -
E13 多功能传感器美国NANMAC快速响应E13 多功能传感器
多功能传感器（MFS）包括特定数量的Nanmac侵蚀热电偶，甚至能够在烧蚀、烧焦和侵蚀（Z多可达热电偶的12.7mm）时记录温度。热端头为二维设计，位于MFS内特定的深度，精密度为±0.03mm。根据研究，整个热电偶和罩都是由相同的材料制造而成（无论其是耐磨或非耐磨塑料、金属或非金属）因此，消除了由于不同热和物理性质而导致的误差。它可以具有非常多的外形和尺寸，足以满足任何需求。可用的典型材料包括各 参考价面议 -
E12系列自更新热电偶美国Nanmac快速响应E12系列自更新热电偶
热电偶设计中革命性的创新；该具有权的侵蚀热电偶可提供以前无法想象的温度数据。该创新设计将热电偶端头直接放在了表面探头的末端。它可以被机加工到任何形状，在加工中侵蚀或磨损Z多可达12.7mm，而且在"磨损的同时"可持续更新自身的端头。此外，它具有毫秒响应时间，而且可以测量壁表面或腔室内截然不同的任一温度。*种是壁表面（热接地组件）。第二种是接口或壁表面的气体温度（未接地热元件）。 参考价面议 -
E6系列自更新热电偶美国NANMAC快速响应E6系列自更新热电偶
热电偶设计中革命性的创新；该具有权的侵蚀热电偶可提供以前无法想象的温度数据。该创新设计将热电偶端头直接放在了表面探头的末端。它可以被机加工到任何形状，在加工中侵蚀或磨损Z多可达12.7mm，而且在"磨损的同时"可持续更新自身的端头。此外，它具有毫秒响应时间，而且可以测量壁表面或腔室内截然不同的任一温度。*种是壁表面（热接地组件）。第二种是接口或壁表面的气体温度（未接地热元件）。 参考价面议 -
E11 自更新热电偶NANMAC快速响应热电偶E11
Nanmac自更新热电偶被用作表面热电偶，可以精确测量热表面的温度，而且不会妨碍流体形态。探头可由任何金属制成。因此，可以同测试壁的性质相*，而且将热传导误差降到了Z低。当壁表面磨损（如果会受到磨损）时，探头会不间断测量表面温度，同时探头自身侵蚀或磨损（在加工时Z多为12.7mm）。这可以很好地测量接口处的温度，例如制动垫一直到磁鼓接口。此外，这种特性还可以对顶端进行塑性，以满足大部分表面轮廓。 参考价面议 -
4511M-R颗粒碰撞噪声检测仪（PIND）4511M-R
颗粒碰撞噪声检测仪：中文：www.pindtest.com.cn
美国SD公司的颗粒碰撞噪声检测仪用于电子元器件封装后，对器件内多余粒子碰撞噪声检测试验，目的在于检测器件封装腔体内存在的自由粒子，是一种非破坏性实验。 用来测试电器零件从而提高电器零件的可靠性。用于检测集成电路、晶体管、电容器、航空/航天/军事领域的继电器等电子元器件封装内的多余物松散颗粒。 参考价面议 -
4511L-R颗粒碰撞噪声检测仪（PIND）4511L-R
颗粒碰撞噪声检测仪：中文：www.pindtest.com.cn
美国SD公司的颗粒碰撞噪声检测仪用于电子元器件封装后，对器件内多余粒子碰撞噪声检测试验，目的在于检测器件封装腔体内存在的自由粒子，是一种非破坏性实验。 用来测试电器零件从而提高电器零件的可靠性。用于检测集成电路、晶体管、电容器、航空/航天/军事领域的继电器等电子元器件封装内的多余物松散颗粒。 参考价面议 -
4511M6颗粒碰撞噪声检测仪（PIND）4511M6
颗粒碰撞噪声检测仪：中文：www.pindtest.com.cn
美国SD公司的颗粒碰撞噪声检测仪用于电子元器件封装后，对器件内多余粒子碰撞噪声检测试验，目的在于检测器件封装腔体内存在的自由粒子，是一种非破坏性实验。 用来测试电器零件从而提高电器零件的可靠性。用于检测集成电路、晶体管、电容器、航空/航天/军事领域的继电器等电子元器件封装内的多余物松散颗粒。 参考价面议 -
4511M颗粒碰撞噪声检测仪（PIND）4511M
颗粒碰撞噪声检测仪：中文：www.pindtest.com.cn
美国SD公司的颗粒碰撞噪声检测仪用于电子元器件封装后，对器件内多余粒子碰撞噪声检测试验，目的在于检测器件封装腔体内存在的自由粒子，是一种非破坏性实验。 用来测试电器零件从而提高电器零件的可靠性。用于检测集成电路、晶体管、电容器、航空/航天/军事领域的继电器等电子元器件封装内的多余物松散颗粒。 参考价面议 -
4511L颗粒碰撞噪声检测仪（PIND）4511L
颗粒碰撞噪声检测仪：中文：www.pindtest.com.cn
美国SD公司的颗粒碰撞噪声检测仪用于电子元器件封装后，对器件内多余粒子碰撞噪声检测试验，目的在于检测器件封装腔体内存在的自由粒子，是一种非破坏性实验。 用来测试电器零件从而提高电器零件的可靠性。用于检测集成电路、晶体管、电容器、航空/航天/军事领域的继电器等电子元器件封装内的多余物松散颗粒。 参考价面议 -
4511A颗粒碰撞噪声检测仪（PIND）4511A
颗粒碰撞噪声检测仪：中文：www.pindtest.com.cn
美国SD公司的颗粒碰撞噪声检测仪用于电子元器件封装后,对器件内多余粒子碰撞噪声检测试验,目的在于检测器件封装腔体内存在的自由粒子,是一种非破坏性实验。 用来测试电器零件从而提高电器零件的可靠性。用于检测集成电路、晶体管、电容器、航空/航天/军事领域的继电器等电子元器件封装内的多余物松散颗粒。 参考价面议 -
BBS平衡轴承故障模拟实验台（BBS）
平衡轴承故障模拟实验台（BBS）用于研究和学习可控条件下轴承故障和转子不平衡故障。该模拟实验台转速可调，可模拟各种单一故障或耦合故障。由于轴承故障很常见，因此有必要对各种工况下的故障特征进行详细研究。不平衡故障也同样常见，该模拟实验台满足轴承故障和不平衡故障特征的实验研究基本要求。为深入研究某一特定故障和更深入地研究振动现象，可选配配套组件以完成不同实验目的。 参考价面议