品牌
经销商厂商性质
北京市所在地
*销售晶体管图示仪 BS-4812
面议手机综测仪 HP8922M+83220E
面议蜂窝基站测试仪/无线电综测仪 SI4032
面议泰克逻辑分析仪 Tektronix TLA5204
面议YOKOGAWA 7651 直流电压电流发生器/电子负载
面议频谱仪 Agilent E4406A 发射机测试仪
面议PCM信道分析仪 PCM-4
面议主机式逻辑分析仪 可配示波器、码型发生器
面议双路输出系统电源 Agilent 6622A 九成新
面议无线电综合测试仪 MARCONI 2960/2955A
面议GSM综合测试仪 Agilent E6392B
面议多频LCR测试仪 HP 4274A
面议厂家: 美国惠普/安捷伦
尺寸: 145x426x525 mm
重量: 20kg
性能指标pdf
主要特点
Timing
差分输出(50Ω)
200ps跃变时间
HP 8131A优异的性能可帮助您解决高速测量的问题。振幅范围为10% - 90%、低于200ps 的跃变时间可在高速数字电路上重复和可靠地进行定时测量。由于端面速度的妥协直接影响测量的精度和阈值的不确定,HP 8131A通过zui小化误差来提供清晰敏捷的端面。现在,为了匹配的ECL和GaAs器件,您可用500MHz(传感器中1GHz)的重复性比率表征元件和电路。HP 8131A是*种可提供200ps端面速度的可全编程的仪器,在环境研发方面和高速生产的测试应用中极其有益。
10ps定时分辨率
高定时分辨率允许定时参量的精密测量,如设置步骤和抑制时间。特别在双通道模式时,可通过独立延迟精确地决定敏捷脉冲的位置,这使HP 8131A成为快速评估数字电路的有用工具。随着幅度命令的定时分辨率高于ECL器件的典型阀门时延值,可简单地探测关键脉冲的参数的趋势,而无需损失所需的定时关系。峰值可用500 ps的小脉冲进行模拟,与10 ps的宽分辨率结合时,可检验定时和能量有关的故障。
5V振幅 和 10mV分辨率
5 V振幅使该仪器具备模拟高速电路(如ECL、 GaAs、BICMOS器件)的能力。此外,您可测试高速元件的过剩电压和评估5 V、200 ps 跃变导致的色度亮度串扰。10 mV的分辨率有助于缓慢地接近数字电路的阈值电平。100毫伏的zui小振幅足够检查500兆赫的zui小信号摆幅(传感器中1 GHz)和重复性比率。与可全编程功能一起使用时,您可在自动化测试程序中进行临界电平条件的细致分析。
500MHz重复性比率
HP 8131A的500MHz 重复性比率创建了新高速编程脉冲发生器种类,该仪器可测试ECL、CMOS和复合GaAs器件的zui大触发比率。在研发领域,这意味着可在重复的条件和测试结果的简单文件下进行更可靠的测试。在生产领域,可编程功能开辟了新的功能,即在明确的条件下用显著的高吞吐量功能性地测试高速的电子元件。
1GHz传感器模式
如果你需要功能性地测试超过500 MHz频率的元件,1GHz传感器模式可将外部提供的正弦波变成方波,跃变时间为200ps。如果你特别需要一个非常快速的可编程时钟源,HP 8131A和一个微波信号发生器一起使用十分理想。
返回上一页
: 010 - 62123258 / 62123259 : buy17