薄膜覆层测厚仪TT240是一种手持式测量仪，它能快速、无损伤、精密地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度；可广泛用于在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域；是材料保护专业*的仪器。

符合以下标准：

GB/T 4957-1985 涡流方法；

JJG 818-93 《电涡流式测厚仪》；

JB/T8393-1996磁性和涡流覆层测厚仪；

功能特点：

采用了涡流测厚法，可无损伤地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度（如铜、铝、锌、锡等基底上的珐琅、橡胶、油漆镀层）；

具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）；

具有两种工作方式：直接方式（DIRECT）和成组方式（APPL）；

设有五个统计量：平均值、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差；

可进行零点校准和二点校准，并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正；

具有存贮功能：可存贮350个测量值；

具有删除功能：对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据；

可设置限界：对限界外的测量值能自动报警；

具有打印：可打印测量值、统计值；

具有与PC机通讯的功能：可将测量值、统计值传输至PC机，以便对数据进行进一步处理；

具有电源欠压指示功能；

操作过程有蜂鸣声提示；

具有错误提示功能；

具有自动关机功能；

技术参数：

测头类型：N；

测量原理：电涡流；

测量范围： 0-1250um | 0-40um（铜上镀铬） ；

低限分辨力：1µm（10um以下为0.1um）；

探头连接方式：分体式导线连接；

示值误差：

1.一点校准（um）：±[3%H+1.5]；

2.两点校准（um）：±[（1%~3%）H+1.5]；

测量条件：

1.zui小曲率半径（mm）：凸3 | 凹10；

2.基体zui小面积的直径（mm）：ф5；

3.zui小临界厚度（mm）：0.3；

温湿度：0~40℃ | 20%RH～90%RH；

统计功能：平均值、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差；

工作方式：直接方式（DIRECT）和成组方式（Appl）；

测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）；

上下限设置：无；

存储能力：350个测量值；

打印/连接计算机：可选配打印机/能连接电脑；

关机方式：手动和自动；

电源：二节AA型碱性电池；

外形尺寸：152×47×35mm；

重量：370g；

基本配置：

主机；

铝基体；

标准片一套 五片；

二节AA型（5号）1.5V电池；

仪器保护套；

使用说明书；

可选附件：

TA230打印机