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测厚仪标准片,校正片,又称标准箔,膜厚片,通用于所有X射线镀层测厚仪（进口品牌Fischer、Oxford（CMI）、Thermo、Veeco、Micro Pioneer XRF-2000、Seiko SII等,国产天瑞,纳优等）
1. 薄膜片,单层测量品种：镍（Ni）；铬（Cr）；铜（Cu）；锌（Zn）；Cd（4）；锡（Sn）；银（Ag）；金（Au）;钯（Pd）等，其它镀层可定制.
2. 镀层标准片:双镀层：Au/Ni/xx， 三镀层：Au/Pd/Ni/xx等.
3. 合金标准片：合金镀层测量：Sn-Pb、Cu-Zn、Zn-Ni 、Ni-P 等.
4. 测量厚度范围：0.01~300μm.（特别厚度可订做）.
5. 我们还有ROHS标准片,标准物件.
6. 涂层测厚仪塑料标准片等.
7. 电解测厚仪标准片/库仑测厚仪标准片
客户在我的时候请了解清楚自己所需要使用的元素及厚度，以便我们更好的沟通与合作,谢谢！
| CHROMIUM （Cr） 铬 | ||
| CSCR2 | 2u" | （0.05um） |
| CSCR4 | 4u" | （0.10um） |
| CSCR10 | 10u" | （0.25um） |
| CSCR20 | 20u" | （0.50um） |
| CSCR40 | 40u" | （1.00um） |
| CSCR80 | 80u" | （2.00um） |
| CSCR200 | 200u" | （5.00um） |
| CSCR400 | 400u" | （10.0um） |
